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硅铝酸盐分子筛对HCl电子气体的深度除水性能研究 被引量:1
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作者 叶向荣 张广第 +5 位作者 叶素芳 夏添 周井森 张云峰 廖进 刘俊明 《现代化工》 CAS CSCD 北大核心 2021年第1期103-107,112,共6页
耐HCl和水协同腐蚀、低二次杂质释出是吸附材料用于HCl电子气体深度除水的先决条件。在考察了一系列工业化硅铝酸盐分子筛的耐蚀性、杂质释出和真实HCl电子气体环境下的深度除水性能后证实,硅铝酸盐分子筛的耐蚀性和除水性能与硅铝摩尔... 耐HCl和水协同腐蚀、低二次杂质释出是吸附材料用于HCl电子气体深度除水的先决条件。在考察了一系列工业化硅铝酸盐分子筛的耐蚀性、杂质释出和真实HCl电子气体环境下的深度除水性能后证实,硅铝酸盐分子筛的耐蚀性和除水性能与硅铝摩尔比(SiO_(2)/Al_(2)O_(3)摩尔比)密切相关。硅铝摩尔比为2的分子筛耐蚀性较差,硅铝摩尔比为16~360的分子筛均具有较好的耐蚀性;硅铝摩尔比介于2~300之间的分子筛可将HCl电子气体中约2μL/L水分脱除至130~200 n L/L,除水效率与速度均随硅铝摩尔比增加呈下降趋势。根据上述规律开发的MS-1分子筛可脱除HCl电子气体中的水分至约160 nL/L,MS-1分子筛经改性后则可将水分除至<100 nL/L,且对HCl中的金属离子无显著影响。 展开更多
关键词 氯化氢 电子气体 硅铝酸盐 分子筛 深度除水
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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定氟化氢气体中16种金属元素 被引量:4
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作者 钟军 李军 +2 位作者 叶林 谭慧 郑红梅 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2020年第8期888-892,共5页
基于电子工业对氟化氢气体中金属离子含量的严格要求,以自制的简单的气体吸收装置吸收氟化氢气体,通过吸收前后吸收液的质量变化得到氟化氢的质量,采用附带耐氢氟酸进样系统的电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)在最优的仪器工作... 基于电子工业对氟化氢气体中金属离子含量的严格要求,以自制的简单的气体吸收装置吸收氟化氢气体,通过吸收前后吸收液的质量变化得到氟化氢的质量,采用附带耐氢氟酸进样系统的电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)在最优的仪器工作条件下测定吸收液中的钾、镁、铝、钡、锌、铬、钴、镉、铁、铜、镍、铅、锰、钠、钙和锡等16种金属元素的含量。结果表明:16种金属元素的质量浓度均在一定范围内与其对应的光谱强度呈线性关系,相关系数均大于0.999 0,检出限(3s)为0.10~6.0μg·L^-1,测定值的相对标准偏差(n=11)为0.96%~5.0%。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体原子发射光谱法 自制气体吸收装置 金属元素 氟化氢气体
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