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基于TDIM的高精度功率SMD结壳热阻测量技术
1
作者
吴玉强
郑花
+3 位作者
马凤丽
侯杰
许为新
郭美洋
《半导体技术》
2025年第12期1237-1243,共7页
为解决传统热阻测量中功率表面贴装器件(SMD)散热基板与电学引出端共面导致短路及热电偶法测量误差问题,提出一种基于瞬态双界面法(TDIM)的高精度结壳热阻(R_(θJC))测量技术。通过设计含铜板凸台结构与绝缘定位板的专用夹具,有效避免...
为解决传统热阻测量中功率表面贴装器件(SMD)散热基板与电学引出端共面导致短路及热电偶法测量误差问题,提出一种基于瞬态双界面法(TDIM)的高精度结壳热阻(R_(θJC))测量技术。通过设计含铜板凸台结构与绝缘定位板的专用夹具,有效避免了电气短路;结合TDIM替代热电偶法,消除了热量“芯吸”效应与测温位置误差。以TO-277封装肖特基二极管为实验对象,测得其R_(θJC)为0.302 K/W,与器件手册典型值(0.30 K/W)误差仅0.67%。通过在相同结温(423.15 K)下实施两次热表征,显著抑制了温度依赖性误差。本技术为功率SMD的热管理设计提供了可靠的测量方案,具备工程推广价值。
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关键词
瞬态双界面法(TDIM)
表面贴装器件(SMD)
结壳热阻
专用夹具
热表征
热管理
一维热流路径
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职称材料
题名
基于TDIM的高精度功率SMD结壳热阻测量技术
1
作者
吴玉强
郑花
马凤丽
侯杰
许为新
郭美洋
机构
济南晶恒电子有限责任公司
出处
《半导体技术》
2025年第12期1237-1243,共7页
文摘
为解决传统热阻测量中功率表面贴装器件(SMD)散热基板与电学引出端共面导致短路及热电偶法测量误差问题,提出一种基于瞬态双界面法(TDIM)的高精度结壳热阻(R_(θJC))测量技术。通过设计含铜板凸台结构与绝缘定位板的专用夹具,有效避免了电气短路;结合TDIM替代热电偶法,消除了热量“芯吸”效应与测温位置误差。以TO-277封装肖特基二极管为实验对象,测得其R_(θJC)为0.302 K/W,与器件手册典型值(0.30 K/W)误差仅0.67%。通过在相同结温(423.15 K)下实施两次热表征,显著抑制了温度依赖性误差。本技术为功率SMD的热管理设计提供了可靠的测量方案,具备工程推广价值。
关键词
瞬态双界面法(TDIM)
表面贴装器件(SMD)
结壳热阻
专用夹具
热表征
热管理
一维热流路径
Keywords
transient double interface method(TDIM)
surface-mounted device(SMD)
junction-to-case thermal resistance
dedicated fixture
thermal characterization
thermal management
one-dimensional heat flow path
分类号
TN307 [电子电信]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
基于TDIM的高精度功率SMD结壳热阻测量技术
吴玉强
郑花
马凤丽
侯杰
许为新
郭美洋
《半导体技术》
2025
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