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基于TDIM的高精度功率SMD结壳热阻测量技术
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作者 吴玉强 郑花 +3 位作者 马凤丽 侯杰 许为新 郭美洋 《半导体技术》 2025年第12期1237-1243,共7页
为解决传统热阻测量中功率表面贴装器件(SMD)散热基板与电学引出端共面导致短路及热电偶法测量误差问题,提出一种基于瞬态双界面法(TDIM)的高精度结壳热阻(R_(θJC))测量技术。通过设计含铜板凸台结构与绝缘定位板的专用夹具,有效避免... 为解决传统热阻测量中功率表面贴装器件(SMD)散热基板与电学引出端共面导致短路及热电偶法测量误差问题,提出一种基于瞬态双界面法(TDIM)的高精度结壳热阻(R_(θJC))测量技术。通过设计含铜板凸台结构与绝缘定位板的专用夹具,有效避免了电气短路;结合TDIM替代热电偶法,消除了热量“芯吸”效应与测温位置误差。以TO-277封装肖特基二极管为实验对象,测得其R_(θJC)为0.302 K/W,与器件手册典型值(0.30 K/W)误差仅0.67%。通过在相同结温(423.15 K)下实施两次热表征,显著抑制了温度依赖性误差。本技术为功率SMD的热管理设计提供了可靠的测量方案,具备工程推广价值。 展开更多
关键词 瞬态双界面法(TDIM) 表面贴装器件(SMD) 结壳热阻 专用夹具 热表征 热管理 一维热流路径
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