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探针振动法测定旋转对称磁透镜的场分布
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作者 吴明均 R Murillo 《仪器仪表学报》 EI CAS 1986年第2期149-154,共6页
电磁透镜是电子显微镜和微分析仪器等电子光学仪器的基本元件。电磁透镜的特性尤其是物镜决定着这些仪器的主要性能。如果我们知道了电磁透镜的轴上场分布,则它的电子光学特性就可以计算出来。探针振动法就是用来直接测量旋转对称电磁... 电磁透镜是电子显微镜和微分析仪器等电子光学仪器的基本元件。电磁透镜的特性尤其是物镜决定着这些仪器的主要性能。如果我们知道了电磁透镜的轴上场分布,则它的电子光学特性就可以计算出来。探针振动法就是用来直接测量旋转对称电磁透镜的轴上场分布的一种设备,它可以简单、迅速地测量一个透镜的真实场分布。一般用计算机的方法只能得到假定的理想的透镜场分布,而各种复杂的实际情况是难于考虑的。探针振动法是根据电磁感应原理,使测量探针在被测量的透镜中作正弦式振动,感应出电动势,此电动势正比于所测量点的电磁感应强度。让探针振动的同时沿透镜轴移动,就可以测得整个透镜的轴上场分布。 展开更多
关键词 电磁透镜 旋转对称 振动法 电子光学仪器 光学特性 电磁感应原理 基本元件 正弦振动 测量线 被测量
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