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拟合法测半值层的缺陷与改进
被引量:
1
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作者
罗泽华
《中国测试技术》
2003年第3期22-22,54,共2页
在电离辐射计量中 ,X辐射源半值层的检测占有很重要的地位。本文针对检测医用诊断X辐射源中的半值层测量方法及数据处理 ,从理论上分析和实验上证实了拟和法的缺陷因素 ;推荐了两种检测方法。该方法的理论将给修改规范半值层的检测方法...
在电离辐射计量中 ,X辐射源半值层的检测占有很重要的地位。本文针对检测医用诊断X辐射源中的半值层测量方法及数据处理 ,从理论上分析和实验上证实了拟和法的缺陷因素 ;推荐了两种检测方法。该方法的理论将给修改规范半值层的检测方法提供重要依据。
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关键词
X辐射源
半值层
电离辐射计量
拟和法
测量方法
数据处理
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职称材料
题名
拟合法测半值层的缺陷与改进
被引量:
1
1
作者
罗泽华
机构
河南省濮阳市质量技术监督检验测试中心
出处
《中国测试技术》
2003年第3期22-22,54,共2页
文摘
在电离辐射计量中 ,X辐射源半值层的检测占有很重要的地位。本文针对检测医用诊断X辐射源中的半值层测量方法及数据处理 ,从理论上分析和实验上证实了拟和法的缺陷因素 ;推荐了两种检测方法。该方法的理论将给修改规范半值层的检测方法提供重要依据。
关键词
X辐射源
半值层
电离辐射计量
拟和法
测量方法
数据处理
分类号
TL8 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
拟合法测半值层的缺陷与改进
罗泽华
《中国测试技术》
2003
1
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