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几十纳秒的荧光寿命的测定
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作者 余仲秋 沈书泊 梁二军 《量子电子学报》 CAS CSCD 1992年第1期55-56,共2页
利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门... 利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门脉冲宽度。本文提出一种方法解决了此问题。 利用OMAⅢ的内插板1303型脉冲发生器的递增延时功能,可以探测到光脉冲随时间变化的三维光谱图(图略),光谱的峰值包络线与时间亡的函数关系为F(t)。 展开更多
关键词 荧光寿命 门脉冲宽度 探测器 脉冲发生器 半宽度 时间变化 包络线 峰值包络 光脉冲 最小值
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激光阈值光强的测定
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作者 余仲秋 沈书泊 +1 位作者 王中修 梁二军 《量子电子学报》 CAS CSCD 1992年第1期103-103,共1页
本文介绍一种测量光强阈值的新方法,一些与光强有关或对光强表现出阈值特性的物理现象,都可以用此方法进行观察和测量,如光纤端面损伤阈值的测定,受激喇曼和受激布里渊散射以及受激四光子混频阈值的测定,液晶分子的排列转向与光强关系... 本文介绍一种测量光强阈值的新方法,一些与光强有关或对光强表现出阈值特性的物理现象,都可以用此方法进行观察和测量,如光纤端面损伤阈值的测定,受激喇曼和受激布里渊散射以及受激四光子混频阈值的测定,液晶分子的排列转向与光强关系的测定等。 通过光学多道分析议(OMAⅢ)发出两个触发射脉冲,一个脉冲用来控制Nd:YAG脉冲激光器的闪光灯,另一个脉冲经过光学多道分析仪的内脉冲1303型脉冲器,产生一个延迟电触发射脉冲控制Nd:YAG激光器的调Q开关。 展开更多
关键词 延迟时间 激光阈值 受激喇曼散射 激光光强分布 受激布里渊散射 光学多道分析 分析仪 受激四光子混频 脉冲激光器 触发脉冲
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