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X射线荧光光谱法测定合金中钨的含量
被引量：
5
1
作者
杨静
曹阳
+1 位作者
蕫娇
王跃明
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
2019年第6期683-686,共4页
采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量。方法中选择钨的Lβ1线为分析线,并选择2θ角在39.50°处作为背景位置。在合金中钽的Lβ2线对钨分析线有重叠干扰,选两套标准样品用基本参数法(FP...
采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量。方法中选择钨的Lβ1线为分析线,并选择2θ角在39.50°处作为背景位置。在合金中钽的Lβ2线对钨分析线有重叠干扰,选两套标准样品用基本参数法(FP)测出了干扰系数k,将k值列入仪器的FP工作软件中来消除钽对钨测定的重叠干扰。用所提出的方法分析了钨质量分数在0.054%~11.71%内的5个标准样品,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=7)在0.55%~9.5%之间。
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关键词
X射线荧光光谱法
钨
合金
基本参数法
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职称材料
题名
X射线荧光光谱法测定合金中钨的含量
被引量：
5
1
作者
杨静
曹阳
蕫娇
王跃明
机构
沈阳黎明发动机公司理化室
辽宁忠旺集团有限
公司
沈阳
产品质量监督检验院
出处
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
2019年第6期683-686,共4页
文摘
采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量。方法中选择钨的Lβ1线为分析线,并选择2θ角在39.50°处作为背景位置。在合金中钽的Lβ2线对钨分析线有重叠干扰,选两套标准样品用基本参数法(FP)测出了干扰系数k,将k值列入仪器的FP工作软件中来消除钽对钨测定的重叠干扰。用所提出的方法分析了钨质量分数在0.054%~11.71%内的5个标准样品,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=7)在0.55%~9.5%之间。
关键词
X射线荧光光谱法
钨
合金
基本参数法
Keywords
X-ray fluorescence spectrometry
tungsten
alloy
fundamental parameter method
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
X射线荧光光谱法测定合金中钨的含量
杨静
曹阳
蕫娇
王跃明
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
2019
5
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