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混和组分的测定探讨——K系数-双峰双波长吸光光度法
1
作者
邱利平
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
1994年第1期34-34,37,共2页
K系数法用于消除混和组分中干扰的影响,双峰双波长法用于提高方法的灵敏度,文献早有论述,同时消除干扰和提高灵敏度,倪永年也曾有过研究,本人在前人的基础上,总结导出K系数-双峰双波长吸光光度法,方法更为简单方便。
关键词
K系数
双峰双波长
吸光光度法
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职称材料
题名
混和组分的测定探讨——K系数-双峰双波长吸光光度法
1
作者
邱利平
机构
江西新余钢铁总厂第二中心试验室
出处
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
1994年第1期34-34,37,共2页
文摘
K系数法用于消除混和组分中干扰的影响,双峰双波长法用于提高方法的灵敏度,文献早有论述,同时消除干扰和提高灵敏度,倪永年也曾有过研究,本人在前人的基础上,总结导出K系数-双峰双波长吸光光度法,方法更为简单方便。
关键词
K系数
双峰双波长
吸光光度法
分类号
O657.39 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
混和组分的测定探讨——K系数-双峰双波长吸光光度法
邱利平
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
1994
0
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