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普克尔斯效应反射法测量绝缘膜表面放电电荷的分布 被引量:9
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作者 王友功 川崎俊之 高田达雄 《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第11期51-57,共7页
介绍用普克尔斯效应反射测量系统测量绝缘膜上表面电荷分布的方法,与原来的透射法相比,反射法可以避免薄膜本身光学特性的影响,因而提高了测量准确度.采用高速光检出装置,反射法可用于测量直流、脉冲及交流沿面放电时绝缘膜上表面... 介绍用普克尔斯效应反射测量系统测量绝缘膜上表面电荷分布的方法,与原来的透射法相比,反射法可以避免薄膜本身光学特性的影响,因而提高了测量准确度.采用高速光检出装置,反射法可用于测量直流、脉冲及交流沿面放电时绝缘膜上表面电荷密度及分布.文中较详细地介绍了低密度聚乙烯膜交流沿面放电时表面电荷分布的测量结果. 展开更多
关键词 表面电荷 普克尔斯效应 沿面放电 绝缘膜 反射法
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