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沟槽栅IGBT制备中的翘曲控制
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作者 夏碧波 蔡乐 +3 位作者 张鸿鑫 魏宏杰 彭新华 谭灿健 《半导体技术》 北大核心 2025年第3期259-264,共6页
沟槽栅IGBT是提高功率器件功率密度和性能的主流发展方向。但随着芯片精细化程度的提升,制备过程产生的晶圆翘曲更大,更容易影响其工艺过程和工艺效果,因此芯片制备过程中的翘曲控制成为了新的关注点。系统分析了沟槽栅IGBT制备流程中... 沟槽栅IGBT是提高功率器件功率密度和性能的主流发展方向。但随着芯片精细化程度的提升,制备过程产生的晶圆翘曲更大,更容易影响其工艺过程和工艺效果,因此芯片制备过程中的翘曲控制成为了新的关注点。系统分析了沟槽栅IGBT制备流程中翘曲的产生原因,从单项工艺制备条件、新型多晶硅/氧化层厚度的沟槽结构和背面膜层的去除站点流程三个方面提出了优化方案。通过整合各种优化方法,IGBT晶圆的翘曲从±120μm降低至±70μm以内,大幅度优化了晶圆翘曲,并减少了流片过程中的异常。 展开更多
关键词 IGBT 翘曲控制 工艺优化 多晶硅 铝金属
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电网用5500A/8000V逆阻型IGCT研制
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作者 陈芳林 方佳仪 +4 位作者 陈勇民 曹强 邹平 孙永伟 操国宏 《半导体技术》 北大核心 2025年第2期127-133,共7页
针对现有电网换相换流阀(LCC)技术中的换相失败问题,提出了基于逆阻型集成门极换流晶闸管(IGCT)主动关断能力的混合换相换流阀(HCC)技术,其中高容量的逆阻型IGCT至关重要。为提升器件的耐压、关断和通流能力,采用独立终端结构和有源区p... 针对现有电网换相换流阀(LCC)技术中的换相失败问题,提出了基于逆阻型集成门极换流晶闸管(IGCT)主动关断能力的混合换相换流阀(HCC)技术,其中高容量的逆阻型IGCT至关重要。为提升器件的耐压、关断和通流能力,采用独立终端结构和有源区p+基区掺杂,创新边缘门极结构,研制出了5500 A/8000 V逆阻型IGCT。该器件具备8000 V的额定电压和5500 A的额定电流关断能力,通态平均电流最高可达3290 A,已通过型式试验和混合换相换流阀运行验证。该器件将应用于高压直流(HVDC)输电换流阀,致力于解决换相失败问题,提升智能电网的稳定性和可靠性。 展开更多
关键词 集成门极换流晶闸管(IGCT) 逆阻型 终端 结构设计 混合换相换流阀(HCC)
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环氧树脂对双面散热IGBT模块功率循环寿命影响分析
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作者 刘鹏 周望君 +4 位作者 邓二平 陆金辉 陈杰 常桂钦 黄永章 《中国电机工程学报》 北大核心 2025年第9期3598-3608,I0028,共12页
双面散热绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)模块以其热阻小、功率密度高、寄生电感小等优势逐渐成为电动汽车功率器件的首要选择,其封装可靠性也受到广泛关注。虽然不少厂商和学者针对模块内部各材料进行功... 双面散热绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)模块以其热阻小、功率密度高、寄生电感小等优势逐渐成为电动汽车功率器件的首要选择,其封装可靠性也受到广泛关注。虽然不少厂商和学者针对模块内部各材料进行功率循环研究,但作为与芯片、三层焊料直接接触的环氧树脂是否对双面散热IGBT模块的功率循环寿命有影响尚且未知。文中对环氧树脂塑封的双面散热IGBT模块和无环氧树脂的双面散热IGBT模块开展相同条件下的功率循环试验,试验结果表明,环氧树脂能提高双面散热IGBT模块的焊料寿命,从而提高其功率循环寿命,但会引起芯片失效。通过试验前后超声波扫描以及功率循环仿真解释环氧树脂对双面散热IGBT模块的影响机理。该研究成果可为半导体器件厂商设计和制造双面散热IGBT模块提供一定参考。 展开更多
关键词 双面散热IGBT模块 功率循环寿命 影响机理 有限元模型 环氧树脂塑封
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SiC MOSFET高温栅氧可靠性研究 被引量:4
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作者 刘建君 陈宏 +3 位作者 丁杰钦 白云 郝继龙 韩忠霖 《电源学报》 CSCD 北大核心 2024年第1期147-152,共6页
碳化硅SiC(silicon carbide)具有优良的电学和热学特性,是一种前景广阔的宽禁带半导体材料。SiC材料制成的功率MOSFET(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor)非常适合应用于大功率领域,而高温栅氧可靠性是大功率MOSFET最... 碳化硅SiC(silicon carbide)具有优良的电学和热学特性,是一种前景广阔的宽禁带半导体材料。SiC材料制成的功率MOSFET(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor)非常适合应用于大功率领域,而高温栅氧可靠性是大功率MOSFET最需要关注的特性之一。通过正压高温栅偏试验和负压高温栅偏试验对比了自研SiC MOSFET和国外同规格SiC MOSFET的高温栅氧可靠性。负压高温栅偏试验结果显示自研SiC MOSFET与国外SiC MOSFET的阈值电压偏移量基本相等,阈值电压偏移量百分比最大相差在4.52%左右。正压高温栅偏试验的结果显示自研SiC MOSFET的阈值电压偏移量较小,与国外SiC MOSFET相比,自研SiC MOSFET的阈值电压偏移量百分比最大相差11%。自研器件占优势的原因是在SiC/SiO2界面处引入了适量的氮元素,钝化界面缺陷的同时,减少了快界面态的产生,使总的界面态密度被降到最低。 展开更多
关键词 SiC MOSFET 可靠性 栅氧 高温栅偏
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散热底板对IGBT模块功率循环老化寿命的影响 被引量:5
5
作者 常桂钦 罗海辉 +2 位作者 方超 陈杰 黄永章 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2024年第8期2485-2495,共11页
功率半导体模块通常采用减小结壳热阻的方式来降低工作结温,集成Pin-Fin基板代替平板基板是一种有效的选择。两种封装结构的热阻抗特性不同,可能对其失效机理及应用寿命产生影响。针对平板基板和集成Pin-Fin基板两种常见车规级IGBT模块... 功率半导体模块通常采用减小结壳热阻的方式来降低工作结温,集成Pin-Fin基板代替平板基板是一种有效的选择。两种封装结构的热阻抗特性不同,可能对其失效机理及应用寿命产生影响。针对平板基板和集成Pin-Fin基板两种常见车规级IGBT模块进行了相同热力测试条件(结温差100 K,最高结温150℃)下的功率循环试验,结果表明,散热更强的Pin-Fin模块功率循环寿命低于平板模块。失效分析显示,两者失效模式均为键合线脱附,但Pin-Fin模块的键合失效点集中在芯片中心区域,而平板模块的键合失效点则较为分散。基于电-热-力耦合分析方法,建立功率循环试验的有限元仿真模型,结果表明,Pin-Fin模块的芯片温变梯度更大,芯片中心区域键合点温度更高,使芯片中心区域的键合点塑性变形更大,导致其寿命较平板模块更短,与试验结果吻合。 展开更多
关键词 绝缘栅双极型晶体管 散热底板 热阻抗 功率循环寿命 有限元分析
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电网用5200V压接式逆导IGBT模块
6
作者 朱利恒 王滨 +3 位作者 蔡海 陈星 覃荣震 肖强 《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第10期873-878,共6页
为了进一步增大功率密度、降低热阻,基于平面增强型U形IGBT元胞结构设计了一种优化芯片背面的逆导(RC)IGBT芯片。通过将RC-IGBT芯片柔性压接封装成模块,研究模块的高温动、静态性能和子模组的极限性能。通过在芯片正面增加n型载流子存... 为了进一步增大功率密度、降低热阻,基于平面增强型U形IGBT元胞结构设计了一种优化芯片背面的逆导(RC)IGBT芯片。通过将RC-IGBT芯片柔性压接封装成模块,研究模块的高温动、静态性能和子模组的极限性能。通过在芯片正面增加n型载流子存储层结构和结型场效应晶体管(JFET)区注入降低正向导通压降(V_(CE,on)),通过在芯片背面逐渐减小n+区域宽度消除正向导通压降回跳现象。测试结果表明,该模块在125℃、3000 A下V_(CE,on)为3.18 V,反向导通压降(V_(F))为1.95 V。3400 V母线电压下,子模组IGBT能关断3.9倍额定电流,可以通过21 V栅压、10μs的一类短路极限测试;快恢复二极管(FRD)的反向恢复瞬时功率峰值达6 MW以上,并可通过峰值电流达23倍额定电流(11.5 kA)的浪涌测试。相比同类产品,该RC-IGBT模块静态性能和极限性能均具有明显优势,能应用于大电流复杂工况的电网环境中。 展开更多
关键词 逆导(RC)IGBT 压接模块 低导通损耗 宽安全工作区 浪涌电流
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电动汽车IGBT芯片技术综述和展望 被引量:17
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作者 罗皓泽 高洪艺 +2 位作者 朱春林 李武华 何湘宁 《中国电机工程学报》 EI CSCD 北大核心 2020年第18期5718-5729,共12页
绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)作为电动汽车动力总成系统的核心器件,直接决定了电动汽车的安全性和可靠性。芯片结构是决定IGBT芯片性能的关键因素。因此,芯片本体的优化设计是提高电动汽车牵引逆变器功... 绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)作为电动汽车动力总成系统的核心器件,直接决定了电动汽车的安全性和可靠性。芯片结构是决定IGBT芯片性能的关键因素。因此,芯片本体的优化设计是提高电动汽车牵引逆变器功率密度、运行效率和工况适应性的基础。围绕电动汽车IGBT芯片电流密度提升和功率损耗降低方面的国内外研究,分类探讨沟槽栅技术、屏蔽栅结构、载流子存储层、超级结和逆导技术等关键技术的最新进展;梳理了IGBT芯片在高压/高温等复杂工况下的可靠性提升技术,特别是对缓冲层和终端结构的优化设计进行了总结和归纳。此外,还着重探讨了IGBT器件的多功能一体化集成技术,包括片上集成温度/电流等传感器技术和模块内部集成无损缓冲电路等。在此基础上,结合电动汽车的发展趋势,展望了电动汽车IGBT芯片技术的未来研究方向。 展开更多
关键词 精细化沟槽栅技术 虚拟陪栅技术 高温技术 智能化集成
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1200V大容量SiC MOSFET器件研制 被引量:6
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作者 刘新宇 李诚瞻 +3 位作者 罗烨辉 陈宏 高秀秀 白云 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第12期2313-2318,共6页
采用平面栅MOSFET器件结构,结合优化终端场限环设计、栅极bus-bar设计、JFET注入设计以及栅氧工艺技术,基于自主碳化硅工艺加工平台,研制了1200V大容量SiC MOSFET器件.测试结果表明,器件栅极击穿电压大于55V,并且实现了较低的栅氧界面... 采用平面栅MOSFET器件结构,结合优化终端场限环设计、栅极bus-bar设计、JFET注入设计以及栅氧工艺技术,基于自主碳化硅工艺加工平台,研制了1200V大容量SiC MOSFET器件.测试结果表明,器件栅极击穿电压大于55V,并且实现了较低的栅氧界面态密度.室温下,器件阈值电压为2.7V,单芯片电流输出能力达到50A,器件最大击穿电压达到1600V.在175℃下,器件阈值电压漂移量小于0.8V;栅极偏置20V下,泄漏电流小于45nA.研制器件显示出优良的电学特性,具备高温大电流SiC芯片领域的应用潜力. 展开更多
关键词 碳化硅 MOSFET 栅极bus-bar JFET注入 大容量器件 低漏电 高温半导体
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3300V SiC MOSFET栅氧可靠性研究 被引量:3
9
作者 陈宏 白云 +1 位作者 陈喜明 李诚瞻 《电源学报》 CSCD 北大核心 2020年第4期10-14,共5页
碳化硅SiC(silicon carbide)功率器件因其卓越的材料性能,表现出巨大的应用前景,其中金属-氧化物-场效应晶体管MOSFET(metal oxide semiconductor field effect transistor)是最重要的器件。3300 V SiC MOSFET可应用于轨道交通和智能电... 碳化硅SiC(silicon carbide)功率器件因其卓越的材料性能,表现出巨大的应用前景,其中金属-氧化物-场效应晶体管MOSFET(metal oxide semiconductor field effect transistor)是最重要的器件。3300 V SiC MOSFET可应用于轨道交通和智能电网等大功率领域,能显著提高效率,降低装置体积。在这些应用领域中,对功率器件的可靠性要求很高,为此,针对自主研制的3300 V SiC MOSFET开展栅氧可靠性研究。首先,按照常规的评估技术对其进行了高温栅偏HTGB(high temperature gate bias)试验;其次,针对高压SiC MOSFET的特点进行了漏源反偏时栅氧电热应力的研究。试验结果表明,在高压SiC MOSFET中,漏源反偏时栅氧的电热应力较大,在设计及使用时应尤为注意。 展开更多
关键词 3300V SiC MOSFET 高温栅偏 栅氧 可靠性
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恒流驱动下基于V_(eE_max)的IGBT模块解耦老化影响的结温测量方法 被引量:8
10
作者 杨舒萌 孙鹏菊 +2 位作者 王凯宏 王绪龙 黄旭 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2022年第12期3038-3047,3072,共11页
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的结温在线测量对于电力电子装置的安全可靠运行、延长使用寿命和热管理等都具有重要意义。然而,目前大多数温敏电参数均受IGBT模块疲劳老化的影响。为此,该文提出一种恒流驱动下基于感应电压峰值V_(eE_max)的I... 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的结温在线测量对于电力电子装置的安全可靠运行、延长使用寿命和热管理等都具有重要意义。然而,目前大多数温敏电参数均受IGBT模块疲劳老化的影响。为此,该文提出一种恒流驱动下基于感应电压峰值V_(eE_max)的IGBT模块结温在线测量方法,该方法能够解耦键合线老化对温敏电参数的影响。基于双脉冲实验平台分析V_(eE_max)的温线性度和温敏感度,并通过模拟键合线老化实验验证所提方法的老化解耦性。最后,通过Buck变换器验证该方法在运行变流器中在线结温测量的可行性。 展开更多
关键词 绝缘栅双极型晶体管(IGBT) 温敏电参数 解耦老化影响 结温在线测量
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受电弓离线过程弓网电弧电气特性研究 被引量:11
11
作者 徐旻 刘文正 +3 位作者 伊金浩 李鑫 赵潞翔 孙成 《铁道标准设计》 北大核心 2021年第2期147-153,共7页
受流问题是制约电气化铁路提速的因素之一,而弓网电弧电气特性是反映高速列车受流问题的重要指标。基于自主设计搭建的弓网离线电弧实验平台,分别探究弓网在稳态离线状态与动态离线过程中燃弧尖峰电压、稳定燃弧电压、电弧电阻、功率的... 受流问题是制约电气化铁路提速的因素之一,而弓网电弧电气特性是反映高速列车受流问题的重要指标。基于自主设计搭建的弓网离线电弧实验平台,分别探究弓网在稳态离线状态与动态离线过程中燃弧尖峰电压、稳定燃弧电压、电弧电阻、功率的变化规律,对弓网电弧进行伏安特性分析。并对燃弧尖峰电压的变化规律进行曲线拟合,探究电流大小对弓网离线过程电弧电压的影响。实验表明,弓网电弧伏安特性曲线关于原点不对称;在弓网离线过程中,燃弧尖峰电压随弓网间隙距离的增加呈指数增长关系;以受电弓滑板为阴极时,稳定燃弧电压及电弧电阻较小;电流增大,燃弧尖峰电压减小,重燃弧次数明显增加。 展开更多
关键词 电气化铁路 接触线 受电弓 离线过程 弓网电弧 电气特性 受流质量 燃弧尖峰电压
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10 kV P沟道SiC IGBT终端结构优化设计与实现 被引量:1
12
作者 冯旺 刘新宇 +3 位作者 田晓丽 杨雨 郑昌伟 杨成樾 《电源学报》 CSCD 北大核心 2023年第1期202-207,共6页
提出采用五区多重场限环FRM-FLRs(five-region multistep field limiting rings)终端设计并流片,研制10 kV P沟道碳化硅绝缘栅双极晶体管SiC IGBT(silicon carbide insulated gate bipolar transistor)终端。通过Silvaco TCAD软件仿真,... 提出采用五区多重场限环FRM-FLRs(five-region multistep field limiting rings)终端设计并流片,研制10 kV P沟道碳化硅绝缘栅双极晶体管SiC IGBT(silicon carbide insulated gate bipolar transistor)终端。通过Silvaco TCAD软件仿真,对比研究传统等间距场限环ES-FLRs(equally spaced field limiting rings)终端和五区多重场限环终端对器件击穿特性的影响。仿真结果表明,五区多重场限环终端具有更均衡的近表面电场分布,减缓电场集中,优化空间电荷区横向扩展,且击穿电压可达到14.5 kV,而等间距场限环终端击穿电压仅为7.5 kV。同时,分别对五区多重场限环终端,以及采用此终端结构的P沟道SiC IGBT进行流片验证。测试结果表明,五区多重场限环终端可以实现12.2 kV的击穿电压;P沟道SiC IGBT的击穿电压达到10 kV时,漏电流小于300 nA,并且栅源电压为-20 V,集电极正向电流为-10 A时,器件的正向导通压降为-8 V。 展开更多
关键词 碳化硅 绝缘栅双极晶体管 五区多重场限环 击穿电压
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高压大电流(4500V/600A)IGBT芯片研制 被引量:15
13
作者 刘国友 黄建伟 +1 位作者 覃荣震 朱春林 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2021年第4期810-819,共10页
提高绝缘栅双极晶体管(IGBT)单芯片电流容量,对减小封装器件芯片并联数、简化封装结构、改善芯片均流至关重要。该文基于高压、大电流、高可靠性IGBT应用需求,通过高压IGBT芯片坚强元胞设计及其协同控制技术实现了元胞之间的开关同步,... 提高绝缘栅双极晶体管(IGBT)单芯片电流容量,对减小封装器件芯片并联数、简化封装结构、改善芯片均流至关重要。该文基于高压、大电流、高可靠性IGBT应用需求,通过高压IGBT芯片坚强元胞设计及其协同控制技术实现了元胞之间的开关同步,通过光刻拼版技术解决大尺寸芯片的工艺制造,通过单芯片压接封装验证了大尺寸芯片设计及其性能,探索出一条大尺寸IGBT芯片设计、制造与验证的技术路径。研究开发了全球第一片42mm×42mm大尺寸高压IGBT芯片,攻克了高压IGBT芯片内部大规模元胞集成及其均流控制的技术难题,首次实现了4500V/600A单芯片功率容量,具备优良的动静态特性和更宽的安全工作区,并可以显著提高IGBT封装功率密度与可靠性。 展开更多
关键词 大尺寸IGBT芯片 电流容量 均流 压接
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基于全铜工艺的750A/6500V高性能IGBT模块 被引量:13
14
作者 刘国友 罗海辉 +2 位作者 张鸿鑫 王彦刚 潘昭海 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2020年第21期4501-4510,共10页
高压大容量IGBT模块内部异质材料热膨胀系数失配是模块疲劳老化失效的主要机理。为了降低模块异质材料间热膨胀系数的差异,提高其功率循环能力与长期运行可靠性,该文提出功率模块采用全铜材料实线电学互连的思路,系统地研究了IGBT芯片... 高压大容量IGBT模块内部异质材料热膨胀系数失配是模块疲劳老化失效的主要机理。为了降低模块异质材料间热膨胀系数的差异,提高其功率循环能力与长期运行可靠性,该文提出功率模块采用全铜材料实线电学互连的思路,系统地研究了IGBT芯片铜金属化、铜引线键合与铜母线端子超声焊接等新技术,实现了IGBT功率模块全铜化封装的成套工艺,研发了基于全铜工艺的大容量高性能750A/6500V IGBT模块,首次实现了全铜工艺的高压模块。与传统铝工艺相比,全铜工艺模块不仅使导通损耗降低了10%、浪涌电流能力提升了20%,而且功率循环能力提高了16倍,提升了功率模块的运行韧性与应用可靠性。 展开更多
关键词 绝缘栅双极型晶体管 铜金属化 铜引线键合 超声焊接
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6.5 kV SiC光控晶闸管的研制
15
作者 杨燎 陈宏 +2 位作者 郑昌伟 白云 杨成樾 《半导体技术》 CAS 北大核心 2021年第11期861-865,共5页
基于Sentaurus TCAD软件,研制了一款6.5 kV SiC光控晶闸管。通过优化雪崩击穿模型,对多层外延材料的规格及渐变终端技术进行研究,有效抑制了芯片表面峰值电场,实现了6.5 kV的耐压设计;此外结合实际应用需求,对器件的开通特性进行了仿真... 基于Sentaurus TCAD软件,研制了一款6.5 kV SiC光控晶闸管。通过优化雪崩击穿模型,对多层外延材料的规格及渐变终端技术进行研究,有效抑制了芯片表面峰值电场,实现了6.5 kV的耐压设计;此外结合实际应用需求,对器件的开通特性进行了仿真模拟。在4英寸(1英寸=2.54 cm)SiC工艺平台制备了6.5 kV SiC光控晶闸管,并对器件性能进行了测试。测试结果显示,芯片击穿电压超过6.5 kV,在4 kV电源电压以及365 nm波长紫外光触发的条件下,器件导通延迟约为200 ns,脉冲峰值电流约为2.1 kA,最大导通电流变化率(di/dt)达到6.3 kA/μs,测试结果与仿真模拟结果基本一致。 展开更多
关键词 碳化硅(SiC) 光控晶闸管(LTT) 脉冲开关 击穿电压 电流变化率(di/dt)
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IGBT模块焊层的被动热循环可靠性分析 被引量:5
16
作者 曾杰 檀浩浩 +4 位作者 杨方 周望君 李亮星 常桂钦 罗海辉 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第7期123-128,I0010,共7页
有众多基于加速试验与数学模型研究焊层可靠性的方法被报道,但是这些方法对模块各焊层间的差异及失效机理认知不足.基于某款绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)模块为研究对象,通过设计被动热循环(TC)加速试验... 有众多基于加速试验与数学模型研究焊层可靠性的方法被报道,但是这些方法对模块各焊层间的差异及失效机理认知不足.基于某款绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)模块为研究对象,通过设计被动热循环(TC)加速试验,结合精细超声扫描(scanning acoustic microscope,SAM)的方法高效评价了不同焊层的TC耐热疲劳可靠性.结果表明,该封装体系下母排焊层的可靠性最差,衬板的可靠性最高.在热应力及化学势作用下,镀层中磷的相对含量及界面金属间化合物的厚度逐渐增加引起界面结构不匹配性增强,导致界面裂纹的萌生和生长,其中镀层结构的变化起主导作用.创新点:基于SnPbAg焊层与衬板及基板界面结构的动力学过程分析,明确了系统焊层退化及空洞产生的机理. 展开更多
关键词 IGBT模块 被动热循环 SnPbAg焊层 可靠性 退化机理
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DC功率循环与PWM功率循环的差异对比分析 被引量:3
17
作者 谢露红 赵雨山 +3 位作者 常桂钦 邓二平 陈杰 黄永章 《半导体技术》 CAS 北大核心 2021年第10期808-818,共11页
与DC功率循环相比,脉冲宽带调制(PWM)功率循环由于其控制方式与模块的实际应用工况相同,因此其测试条件更接近于模块的实际运行工况。但是两者之间的差异是否会对模块可靠性测试结果产生影响还有待研究。从DC功率循环和PWM功率循环的测... 与DC功率循环相比,脉冲宽带调制(PWM)功率循环由于其控制方式与模块的实际应用工况相同,因此其测试条件更接近于模块的实际运行工况。但是两者之间的差异是否会对模块可靠性测试结果产生影响还有待研究。从DC功率循环和PWM功率循环的测试原理、结温测量方法、失效机理和寿命方面进行了系统的分析论述。首先分析得到了两种功率循环方式之间的差异,然后从失效机理及寿命两个方面进行对比,发现DC功率循环与PWM功率循环之间的差异对模块失效机理及寿命的影响很小,因此可以认为尽管DC功率循环和PWM功率循环之间存在差异,但是其差异性并不会对模块可靠性测试的结果产生影响。 展开更多
关键词 IGBT DC功率循环 脉冲宽带调制(PWM)功率循环 失效机理 寿命 差异对比分析
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SiC JBS二极管衬底减薄与激光退火工艺 被引量:1
18
作者 刘启军 李诚瞻 +4 位作者 罗海辉 卢吴越 龚芷玉 郑昌伟 李乐乐 《半导体技术》 CAS 北大核心 2021年第12期956-961,共6页
衬底减薄可以大幅提升SiC结势垒肖特基(JBS)二极管的电流密度,但减薄工艺和减薄引入的激光退火工艺仍面临巨大挑战。使用不同型号的金刚砂轮模拟了SiC衬底减薄精磨过程,研究了精磨后SiC衬底的界面质量;同时,使用波长为355 nm的紫外激光... 衬底减薄可以大幅提升SiC结势垒肖特基(JBS)二极管的电流密度,但减薄工艺和减薄引入的激光退火工艺仍面临巨大挑战。使用不同型号的金刚砂轮模拟了SiC衬底减薄精磨过程,研究了精磨后SiC衬底的界面质量;同时,使用波长为355 nm的紫外激光器退火Ni/4H-SiC结构,分析了激光能量密度对欧姆接触的性能影响;最后,结合减薄工艺和激光退火工艺制备了厚度为100μm的1 200 V/15 A SiC JBS二极管。结果表明,使用超精细砂轮精磨SiC衬底后,其表面粗糙度为1.26 nm,纵向损伤层厚度约为60 nm;当激光能量密度为1.8 J/cm^(2)时,能形成良好的欧姆接触,比接触电阻率为7.42×10^(-5)Ω·cm^(2);厚度减薄至100μm的1 200 V/15 A SiC JBS二极管在不损失阻断性能的情况下,其正向导通压降比未减薄的减小了0.15 V,电流密度提升了41.27%。 展开更多
关键词 4H-SIC 衬底减薄 激光退火 欧姆接触 电流密度
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SiC MOSFET栅极电参数退化机理及耦合关系 被引量:1
19
作者 孟鹤立 邓二平 +1 位作者 常桂钦 黄永章 《半导体技术》 CAS 北大核心 2022年第1期9-18,共10页
栅极一直是SiC MOSFET可靠性研究的重点,栅极老化过程中电参数之间的耦合关系对栅极可靠性研究有至关重要的作用。为此,搭建了能够同时监测阈值电压和栅极漏电流的高温栅偏(HTGB)试验平台。研究了HTGB下阈值电压和漏电流的退化趋势和影... 栅极一直是SiC MOSFET可靠性研究的重点,栅极老化过程中电参数之间的耦合关系对栅极可靠性研究有至关重要的作用。为此,搭建了能够同时监测阈值电压和栅极漏电流的高温栅偏(HTGB)试验平台。研究了HTGB下阈值电压和漏电流的退化趋势和影响,基于氧化层注入电荷量深入分析了两者之间的耦合关系。结果表明,热应力对载流子隧穿影响较为明显,对陷阱捕获的载流子影响相对较小,而场强则对两者均具有显著的影响。此外,提出了减小阈值电压漂移对SiC MOSFET均流特性影响的方法,指出了栅极漏电流下降现象的本质是栅极陷阱充电,并给出了栅极老化过程中漏电流失效基准值选取的方法。该研究结果为深入理解SiC MOSFET的栅极失效机理提供了理论指导。 展开更多
关键词 均流特性 阈值电压 漏电流 SiC MOSFET 高温栅偏(HTGB)试验
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基于新型吊弦的高速铁路接触网受流特性研究
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作者 李鑫 刘文正 +2 位作者 孙成 伊金浩 徐旻 《铁道标准设计》 北大核心 2021年第1期128-131,137,共5页
在高速铁路接触网的实际运营中,由于接触网振动、疲劳寿命等原因,吊弦断裂的故障时有发生,不利于弓网之间稳定受流。为了提高弓网受流质量同时解决吊弦断裂的问题,根据京津城际铁路接触网实际结构参数,在有限元软件MSC. Marc中搭建仿真... 在高速铁路接触网的实际运营中,由于接触网振动、疲劳寿命等原因,吊弦断裂的故障时有发生,不利于弓网之间稳定受流。为了提高弓网受流质量同时解决吊弦断裂的问题,根据京津城际铁路接触网实际结构参数,在有限元软件MSC. Marc中搭建仿真模型,分析吊弦参数对于接触网刚度分布和接触力的影响。结果表明,线密度小、杨氏模量小的吊弦有利于改善接触网刚度分布,进而改善弓网受流质量。通过进行不同材料的比较,在满足铁道行业标准相关规定的条件下,选取Kevlar29纤维作为新型吊弦材料。采用新型吊弦可以改善接触网刚度分布,降低接触力的幅值和变化幅度,提高弓网受流质量。同时,能够改善机械损伤和电气腐蚀等造成吊弦断裂的问题。 展开更多
关键词 高速铁路 接触网 吊弦 芳纶 接触网刚度 接触力
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