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基于磁记忆在线监测的再制造毛坯疲劳寿命预测方法
1
作者
冷建成
赵雷
+1 位作者
张新
许宏伟
《材料导报》
北大核心
2025年第2期204-209,共6页
对服役构件进行在线监测并预测其疲劳寿命具有重要的工程意义。基于45钢缺口试件的拉-拉疲劳试验,利用金属磁记忆在线监测系统实时跟踪记录了试件缺口位置在整个疲劳循环过程中的磁信号变化。通过对原始监测信号进行卡尔曼滤波处理,结...
对服役构件进行在线监测并预测其疲劳寿命具有重要的工程意义。基于45钢缺口试件的拉-拉疲劳试验,利用金属磁记忆在线监测系统实时跟踪记录了试件缺口位置在整个疲劳循环过程中的磁信号变化。通过对原始监测信号进行卡尔曼滤波处理,结果表明x向和y向磁记忆信号可以将整个疲劳过程划分为三个阶段,且y向磁信号对疲劳损伤演变更加敏感;进一步引入y向磁场梯度的标准差和鞘度作为特征参数,其对应的峰值点可分别作为第一、二阶段和第二、三阶段的分界点指标。同时提出了x向磁信号突变点的峰值可用于表征试件断裂前的预警信息,并探讨了磁信号变化背后的机理,为再制造毛坯的疲劳寿命预测提供参考。
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关键词
金属磁记忆
在线监测
疲劳寿命预测
卡尔曼滤波
标准差
峭度
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职称材料
SoC数字测试机高精度脉冲边沿设计技术研究
2
作者
钟锋浩
《中国集成电路》
2025年第1期70-74,共5页
集成电路数字测试机最关键的核心技术是数字测试模块技术,其技术性能直接决定了数字测试机的技术能力。数字测试模块的关键技术指标是测试速度和向量深度,其中测试速度的提升和稳定性直接决定了整个数字测试机的能力。本文从数字模块的...
集成电路数字测试机最关键的核心技术是数字测试模块技术,其技术性能直接决定了数字测试机的技术能力。数字测试模块的关键技术指标是测试速度和向量深度,其中测试速度的提升和稳定性直接决定了整个数字测试机的能力。本文从数字模块的基本原理分析,探讨数字测试模块时钟及数字信号边沿控制技术,对数字通道信号边沿对齐同步做了技术分析,对数字测试机的整体技术能力提升提供了有效的帮助。
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关键词
数字测试机
数字信号
脉冲边沿
信号同步
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职称材料
功率半导体发展与测试技术研究
3
作者
钟锋浩
《电子工业专用设备》
2024年第5期7-11,共5页
以GaN、SiC新材料功率半导体为代表的高性能功率器件和功率模块的出现,在太阳能光伏、风能、新能源汽车、高性能电源、储能、家电等领域广泛应用,其电压电流能力的提升,开关速度和功率密度的提升,对功率半导体的性能和可靠性提出了新的...
以GaN、SiC新材料功率半导体为代表的高性能功率器件和功率模块的出现,在太阳能光伏、风能、新能源汽车、高性能电源、储能、家电等领域广泛应用,其电压电流能力的提升,开关速度和功率密度的提升,对功率半导体的性能和可靠性提出了新的要求,对制造过程各阶段的测试要求也提出了新的挑战。通过分析新材料技术特点和生产工艺要求的研究,研究相关参数测试方法和测试流程,提出了降低功率模块制造成本、提高模块可靠性的基本要求和方法。
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关键词
功率半导体模块
氮化镓(GaN)
碳化硅(SiC)
测试技术
模块可靠性
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职称材料
高精度电压电流源设计研究
4
作者
钟锋浩
《中国集成电路》
2024年第10期56-59,72,共5页
电压电流源在集成电路自动测试设备是必配的资源,最大电压和电流的规格会有不同的要求,但都会对电压和电流的精度提出很高的要求。本文通过对电源线路原理的优化设计,解决了电源输出通过连接器和导线等不同路径对输出精度的影响,通过算...
电压电流源在集成电路自动测试设备是必配的资源,最大电压和电流的规格会有不同的要求,但都会对电压和电流的精度提出很高的要求。本文通过对电源线路原理的优化设计,解决了电源输出通过连接器和导线等不同路径对输出精度的影响,通过算法进一步提升了电源的精度和一致性,为测试机高精度电压电流源设计提供了有效的解决方案。
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关键词
电压电流源
精度
算法
自动测试设备(ATE)
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职称材料
Chiplet大功率测试需求对测试装备技术挑战研究
5
作者
钟锋浩
《电子工业专用设备》
2025年第2期1-5,共5页
集成电路技术的发展不仅仅是工艺制程线宽越来越小,设计、IP、封装、测试等技术也在不断取得进步,芯粒技术是对EDA设计、制造、封装、测试等方面最为显著的技术推动,也是对摩尔定律的后摩尔时代延续,但同时也对各阶段流程带来了新的技...
集成电路技术的发展不仅仅是工艺制程线宽越来越小,设计、IP、封装、测试等技术也在不断取得进步,芯粒技术是对EDA设计、制造、封装、测试等方面最为显著的技术推动,也是对摩尔定律的后摩尔时代延续,但同时也对各阶段流程带来了新的技术挑战。通过研究芯粒技术对测试带来的挑战,重点研究和分享对其中之一的大功率测试需求对测试机和分选机相应的解决途径和思路。
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关键词
集成电路
芯粒
测试技术
大电流
散热控制
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职称材料
题名
基于磁记忆在线监测的再制造毛坯疲劳寿命预测方法
1
作者
冷建成
赵雷
张新
许宏伟
机构
东北石油大学机械科学与工程学院
杭州长川科技股份有限公司
出处
《材料导报》
北大核心
2025年第2期204-209,共6页
基金
黑龙江省自然科学基金联合引导项目(LH2020E016)
国家自然科学基金(11472076)。
文摘
对服役构件进行在线监测并预测其疲劳寿命具有重要的工程意义。基于45钢缺口试件的拉-拉疲劳试验,利用金属磁记忆在线监测系统实时跟踪记录了试件缺口位置在整个疲劳循环过程中的磁信号变化。通过对原始监测信号进行卡尔曼滤波处理,结果表明x向和y向磁记忆信号可以将整个疲劳过程划分为三个阶段,且y向磁信号对疲劳损伤演变更加敏感;进一步引入y向磁场梯度的标准差和鞘度作为特征参数,其对应的峰值点可分别作为第一、二阶段和第二、三阶段的分界点指标。同时提出了x向磁信号突变点的峰值可用于表征试件断裂前的预警信息,并探讨了磁信号变化背后的机理,为再制造毛坯的疲劳寿命预测提供参考。
关键词
金属磁记忆
在线监测
疲劳寿命预测
卡尔曼滤波
标准差
峭度
Keywords
metal magnetic memory
online monitoring
fatigue life prediction
Kalman filtering
standard deviation
kurtosis
分类号
TG115.28 [金属学及工艺—物理冶金]
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职称材料
题名
SoC数字测试机高精度脉冲边沿设计技术研究
2
作者
钟锋浩
机构
杭州长川科技股份有限公司
出处
《中国集成电路》
2025年第1期70-74,共5页
文摘
集成电路数字测试机最关键的核心技术是数字测试模块技术,其技术性能直接决定了数字测试机的技术能力。数字测试模块的关键技术指标是测试速度和向量深度,其中测试速度的提升和稳定性直接决定了整个数字测试机的能力。本文从数字模块的基本原理分析,探讨数字测试模块时钟及数字信号边沿控制技术,对数字通道信号边沿对齐同步做了技术分析,对数字测试机的整体技术能力提升提供了有效的帮助。
关键词
数字测试机
数字信号
脉冲边沿
信号同步
Keywords
digital testing machine
digital signal
pulse edge
signal synchronization
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
功率半导体发展与测试技术研究
3
作者
钟锋浩
机构
杭州长川科技股份有限公司
出处
《电子工业专用设备》
2024年第5期7-11,共5页
文摘
以GaN、SiC新材料功率半导体为代表的高性能功率器件和功率模块的出现,在太阳能光伏、风能、新能源汽车、高性能电源、储能、家电等领域广泛应用,其电压电流能力的提升,开关速度和功率密度的提升,对功率半导体的性能和可靠性提出了新的要求,对制造过程各阶段的测试要求也提出了新的挑战。通过分析新材料技术特点和生产工艺要求的研究,研究相关参数测试方法和测试流程,提出了降低功率模块制造成本、提高模块可靠性的基本要求和方法。
关键词
功率半导体模块
氮化镓(GaN)
碳化硅(SiC)
测试技术
模块可靠性
Keywords
Power semiconductor module
GaN
SiC
Test technology
Module reliability
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
高精度电压电流源设计研究
4
作者
钟锋浩
机构
杭州长川科技股份有限公司
出处
《中国集成电路》
2024年第10期56-59,72,共5页
文摘
电压电流源在集成电路自动测试设备是必配的资源,最大电压和电流的规格会有不同的要求,但都会对电压和电流的精度提出很高的要求。本文通过对电源线路原理的优化设计,解决了电源输出通过连接器和导线等不同路径对输出精度的影响,通过算法进一步提升了电源的精度和一致性,为测试机高精度电压电流源设计提供了有效的解决方案。
关键词
电压电流源
精度
算法
自动测试设备(ATE)
Keywords
voltage and current source
precision
algorithm
automatic test equipment(ATE)
分类号
TN86 [电子电信—信息与通信工程]
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职称材料
题名
Chiplet大功率测试需求对测试装备技术挑战研究
5
作者
钟锋浩
机构
杭州长川科技股份有限公司
出处
《电子工业专用设备》
2025年第2期1-5,共5页
文摘
集成电路技术的发展不仅仅是工艺制程线宽越来越小,设计、IP、封装、测试等技术也在不断取得进步,芯粒技术是对EDA设计、制造、封装、测试等方面最为显著的技术推动,也是对摩尔定律的后摩尔时代延续,但同时也对各阶段流程带来了新的技术挑战。通过研究芯粒技术对测试带来的挑战,重点研究和分享对其中之一的大功率测试需求对测试机和分选机相应的解决途径和思路。
关键词
集成电路
芯粒
测试技术
大电流
散热控制
Keywords
Integrated circuit
Chiplet
Test technology
High current
Heat dissipation control
分类号
TN407 [电子电信]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于磁记忆在线监测的再制造毛坯疲劳寿命预测方法
冷建成
赵雷
张新
许宏伟
《材料导报》
北大核心
2025
0
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职称材料
2
SoC数字测试机高精度脉冲边沿设计技术研究
钟锋浩
《中国集成电路》
2025
0
在线阅读
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职称材料
3
功率半导体发展与测试技术研究
钟锋浩
《电子工业专用设备》
2024
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
4
高精度电压电流源设计研究
钟锋浩
《中国集成电路》
2024
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
5
Chiplet大功率测试需求对测试装备技术挑战研究
钟锋浩
《电子工业专用设备》
2025
在线阅读
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职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
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