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题名LED光色电综合性能分析测试原理与仪器
被引量：12
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作者
潘建根
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机构
杭州远方仪器有限公司
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出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
2003年第2期138-140,共3页
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文摘
光色电综合性能参数是LED的主要技术指标,LED光色电综合性能的准确快速测量,对LED研发、制造和品质具有重要意义。本文介绍了LED光色电综合性能分析测试原理和仪器的主要技术指标,仪器满足CIE推荐标准条件。
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关键词
LED
光色电综合性能分析
测试原理
测试仪器
CIE标准条件
技术指标
发光二极管
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Keywords
LED
rapid measurement
CIE standard condition
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分类号
TN312.8
[电子电信—物理电子学]
TN874
[电子电信—信息与通信工程]
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题名LED对MM和HBM静电放电敏感性的研究
被引量：2
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作者
涂辛雅
季军
郑益民
潘建根
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机构
浙江省半导体照明测试系统工程技术研究中心
杭州远方仪器有限公司
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第11期894-899,共6页
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文摘
为研究机器模式(MM)及人体模式(HBM)静电放电试验对LED特性的影响,参考国际标准对半导体元件的静电放电测试要求,对LED样品分别进行MM及HBM静电放电试验。每次静电测试前后均对样品进行光电参数测试,观察样品光电参数的变化,并以此作为判别LED失效的依据。通过实验,研究对比MM静电放电和HBM静电放电试验对LED特性的影响,并从理论上探讨了相关失效机理。实验表明无论是MM静电放电还是HBM静电放电,均会造成LED反向漏电流增大,正向I-V特性"收缩",光通量一定程度的衰减。但是在静电敏感电压上有差别较大,MM静电失效电压远低于HBM静电失效电压。
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关键词
静电放电
机器模式
人体模式
发光二极管
反向漏电流
光通量
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Keywords
electrostatic discharge（ESD）
machine model（MM）
human body model（HBM）
light emitting diode（LED）
reverse leakage current
luminous flux
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分类号
TN364.2
[电子电信—物理电子学]
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