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PLAUD-Ⅱ:一个全自动MOS PLA的设计系统
1
作者
严晓浪
朱彭遐
+2 位作者
胡建萍
董云耀
董晨皓
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
1991年第2期18-26,共9页
可编程逻辑阵列(PLA)的自动设计是80年代以来迅速发展起来的,用以优化设计大规模数字系统的设计技术。PLAUD-Ⅱ是我国第二级IC-CAD系统的PLA自动设计子系统,它在国内首次实现了MOSPLA从逻辑输入到版图生成的自动设计。该系统的研制完成...
可编程逻辑阵列(PLA)的自动设计是80年代以来迅速发展起来的,用以优化设计大规模数字系统的设计技术。PLAUD-Ⅱ是我国第二级IC-CAD系统的PLA自动设计子系统,它在国内首次实现了MOSPLA从逻辑输入到版图生成的自动设计。该系统的研制完成为大规模数字系统的控制逻辑部件的设计自动化打下了良好的基础。
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关键词
数字系统
逻辑输入
可编程逻辑阵列
逻辑部件
测试生成
MOS
PLA
PLAUD
方体
单元库
固定型故障
在线阅读
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职称材料
用于快速P/G网分析的Cholesky分解法图模型
2
作者
竺红卫
马琪
+1 位作者
李春强
严晓浪
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2004年第8期1080-1084,共5页
通过对Cholesky分解法求解线性方程组的分析 ,建立Cholesky分解法三角化对称正定阵的图模型 ,并基于该模型及Mesh结构P/G网络的自身特点 ,提出一个P/G网快速分析算法 实验证明 。
关键词
P/G网分析
Cholesky分解法
MESH结构
对称正定阵
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职称材料
PLA测试产生方法概论
3
作者
董云耀
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
1992年第5期17-24,F004,共9页
PLA以其独特的优势和规整的结构,越来越广泛地应用于复杂的VLSI系统的设计中,它的测试问题由于其难度和特殊性受到普遍的重视。十多年来,许多研究人员专注于PLA测试方法的研究,提出了不少解决问题的办法。本文试图在讨论PLA的故障类型...
PLA以其独特的优势和规整的结构,越来越广泛地应用于复杂的VLSI系统的设计中,它的测试问题由于其难度和特殊性受到普遍的重视。十多年来,许多研究人员专注于PLA测试方法的研究,提出了不少解决问题的办法。本文试图在讨论PLA的故障类型及其故障模型和检测关系的基础上,归纳总结并分析现有的PLA故障测试生成的几类主要方法,以飨读者,切磋商讨。
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关键词
逻辑阵列
PLA
测试
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职称材料
题名
PLAUD-Ⅱ:一个全自动MOS PLA的设计系统
1
作者
严晓浪
朱彭遐
胡建萍
董云耀
董晨皓
机构
杭州电子工业学院微电子cad研究所
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
1991年第2期18-26,共9页
文摘
可编程逻辑阵列(PLA)的自动设计是80年代以来迅速发展起来的,用以优化设计大规模数字系统的设计技术。PLAUD-Ⅱ是我国第二级IC-CAD系统的PLA自动设计子系统,它在国内首次实现了MOSPLA从逻辑输入到版图生成的自动设计。该系统的研制完成为大规模数字系统的控制逻辑部件的设计自动化打下了良好的基础。
关键词
数字系统
逻辑输入
可编程逻辑阵列
逻辑部件
测试生成
MOS
PLA
PLAUD
方体
单元库
固定型故障
分类号
TP391.72 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
用于快速P/G网分析的Cholesky分解法图模型
2
作者
竺红卫
马琪
李春强
严晓浪
机构
浙江大学VLSI设计
研究所
杭州电子工业学院微电子cad研究所
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2004年第8期1080-1084,共5页
文摘
通过对Cholesky分解法求解线性方程组的分析 ,建立Cholesky分解法三角化对称正定阵的图模型 ,并基于该模型及Mesh结构P/G网络的自身特点 ,提出一个P/G网快速分析算法 实验证明 。
关键词
P/G网分析
Cholesky分解法
MESH结构
对称正定阵
Keywords
mesh structure
P/G network analysis
Cholesky factorization
symmetric positive coefficient matrix
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
PLA测试产生方法概论
3
作者
董云耀
机构
杭州电子工业学院微电子cad研究所
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
1992年第5期17-24,F004,共9页
文摘
PLA以其独特的优势和规整的结构,越来越广泛地应用于复杂的VLSI系统的设计中,它的测试问题由于其难度和特殊性受到普遍的重视。十多年来,许多研究人员专注于PLA测试方法的研究,提出了不少解决问题的办法。本文试图在讨论PLA的故障类型及其故障模型和检测关系的基础上,归纳总结并分析现有的PLA故障测试生成的几类主要方法,以飨读者,切磋商讨。
关键词
逻辑阵列
PLA
测试
分类号
TN790.7 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
PLAUD-Ⅱ:一个全自动MOS PLA的设计系统
严晓浪
朱彭遐
胡建萍
董云耀
董晨皓
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
1991
0
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职称材料
2
用于快速P/G网分析的Cholesky分解法图模型
竺红卫
马琪
李春强
严晓浪
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2004
0
在线阅读
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职称材料
3
PLA测试产生方法概论
董云耀
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
1992
0
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职称材料
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