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双模冗余汉明码的设计与验证
被引量：
4
1
作者
乔冰涛
吴旭凡
+2 位作者
刘海静
王正
董业民
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第10期161-166,共6页
集成电路芯片工作在电磁环境复杂的空间环境中,容易受到高能粒子的影响发生软错误.在芯片内,存储单元所占面积超过一半以上,对存储器单元进行加固是提升芯片可靠性的重要途径之一.因此,本文对汉明码做出改进,提出了一种双模冗余汉明码,...
集成电路芯片工作在电磁环境复杂的空间环境中,容易受到高能粒子的影响发生软错误.在芯片内,存储单元所占面积超过一半以上,对存储器单元进行加固是提升芯片可靠性的重要途径之一.因此,本文对汉明码做出改进,提出了一种双模冗余汉明码,该方法能够修正存储单元中出现的一位翻转和两位翻转.首先,对汉明码编码模块进行逻辑优化,有效减少了编码电路的延迟,再把该模块生成的校验码进行双模冗余处理,作为双模冗余汉明码编码模块的输出.之后依据汉明码解码规则分别对每份校验码与原码的组合进行处理,得到修正后的数据位与两位翻转标志位.通过分析发现当两位翻转未同时发生在原码内时,可以依据两位错误标志位的值得到正确的输出.最后,采用版图分割技术消除了两位原码同时翻转的情况,进一步提高了存储器的可靠性.在本文中,分别实现了字长为4、8和11的双模冗余汉明码,并与其它修正码的性能进行比较,结果表明:它们的电路延迟分别为8位字长汉明码的85%、89%和96%,低于两位修正能力的BCH码.
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关键词
双模冗余
纠错码
高可靠
存储器
两位翻转
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职称材料
题名
双模冗余汉明码的设计与验证
被引量：
4
1
作者
乔冰涛
吴旭凡
刘海静
王正
董业民
机构
信息功能
材料
国家重点实验室(
中国科学院
上海微系统与信息技术
研究
所)
材料与
光电
研究
中心
(
中国科学院大学
)
出处
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第10期161-166,共6页
基金
中科院重点部署项目(KGFZD-135-16-015)。
文摘
集成电路芯片工作在电磁环境复杂的空间环境中,容易受到高能粒子的影响发生软错误.在芯片内,存储单元所占面积超过一半以上,对存储器单元进行加固是提升芯片可靠性的重要途径之一.因此,本文对汉明码做出改进,提出了一种双模冗余汉明码,该方法能够修正存储单元中出现的一位翻转和两位翻转.首先,对汉明码编码模块进行逻辑优化,有效减少了编码电路的延迟,再把该模块生成的校验码进行双模冗余处理,作为双模冗余汉明码编码模块的输出.之后依据汉明码解码规则分别对每份校验码与原码的组合进行处理,得到修正后的数据位与两位翻转标志位.通过分析发现当两位翻转未同时发生在原码内时,可以依据两位错误标志位的值得到正确的输出.最后,采用版图分割技术消除了两位原码同时翻转的情况,进一步提高了存储器的可靠性.在本文中,分别实现了字长为4、8和11的双模冗余汉明码,并与其它修正码的性能进行比较,结果表明:它们的电路延迟分别为8位字长汉明码的85%、89%和96%,低于两位修正能力的BCH码.
关键词
双模冗余
纠错码
高可靠
存储器
两位翻转
Keywords
dual modular redundancy
error correction code
high reliability
memory
two-bit upset
分类号
TP302.8 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
双模冗余汉明码的设计与验证
乔冰涛
吴旭凡
刘海静
王正
董业民
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020
4
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