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用X射线双晶衍射测定CdTe及外延MCT层的径向均匀性
1
作者
郝建民
张世敏
李贵全
《红外与激光技术》
CSCD
1992年第1期37-39,共3页
用X射线双晶衍射法测量了(111)晶面的CdTe及外延MCT层的完整性,结果表明CdTe径向晶格常数的一致性差是其完整性低的主要原因。MCT外延层完整性差不仅与径向晶格常数的一致性差有关,而且对小范围内的完整性也有较大影响,生长条件有待进...
用X射线双晶衍射法测量了(111)晶面的CdTe及外延MCT层的完整性,结果表明CdTe径向晶格常数的一致性差是其完整性低的主要原因。MCT外延层完整性差不仅与径向晶格常数的一致性差有关,而且对小范围内的完整性也有较大影响,生长条件有待进一步改善。
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关键词
X射线
双晶体衍射
测量
碲化镉
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题名
用X射线双晶衍射测定CdTe及外延MCT层的径向均匀性
1
作者
郝建民
张世敏
李贵全
机构
机械电子部第四十六研究所
出处
《红外与激光技术》
CSCD
1992年第1期37-39,共3页
文摘
用X射线双晶衍射法测量了(111)晶面的CdTe及外延MCT层的完整性,结果表明CdTe径向晶格常数的一致性差是其完整性低的主要原因。MCT外延层完整性差不仅与径向晶格常数的一致性差有关,而且对小范围内的完整性也有较大影响,生长条件有待进一步改善。
关键词
X射线
双晶体衍射
测量
碲化镉
分类号
TN213 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用X射线双晶衍射测定CdTe及外延MCT层的径向均匀性
郝建民
张世敏
李贵全
《红外与激光技术》
CSCD
1992
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