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半导体硅片制备技术及产业现状 被引量:13
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作者 闫志瑞 库黎明 +2 位作者 白杜娟 陈海滨 王永涛 《金刚石与磨料磨具工程》 CAS 北大核心 2020年第4期5-11,共7页
介绍半导体硅片制备技术及理论,分析目前全球硅片的产业概况、产业历史发展趋势及特点;结合我国目前的实际情况,论述国内大力发展硅片产业面临的机遇、挑战及存在的问题。
关键词 半导体 硅片 产业现状 技术 机遇 挑战
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电化学C-V法研究掺硅GaAs材料载流子浓度的分布
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作者 徐继平 程凤伶 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第9期2347-2351,共5页
电化学C-V法是当前测量化合物半导体载流子浓度纵向分布的非常重要的方法。本文采用电化学C-V法研究了MOCVD生长的掺硅GaAs多层薄膜的载流子浓度的面分布和纵向分布,并对测试结果进行分析。研究表明电化学C-V法测得的载流子浓度数据可... 电化学C-V法是当前测量化合物半导体载流子浓度纵向分布的非常重要的方法。本文采用电化学C-V法研究了MOCVD生长的掺硅GaAs多层薄膜的载流子浓度的面分布和纵向分布,并对测试结果进行分析。研究表明电化学C-V法测得的载流子浓度数据可以为研究掺硅GaAs半导体材料载流子浓度工艺优化和改进提供重要指导依据。 展开更多
关键词 电化学C-V MOCVD GAAS 载流子浓度
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稀土元素对硬质合金影响的研究进展 被引量:13
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作者 邝海 谭敦强 +4 位作者 何文 王晓茹 邹志航 易志强 白杜娟 《稀有金属与硬质合金》 CAS CSCD 北大核心 2018年第3期69-74,共6页
综述了稀土元素对硬质合金颗粒均匀化的作用、固溶强化作用、对晶界的净化作用、对Co相的作用及对硬质合金的强韧化作用,但这些作用机理并未得到完全认同,还需深入研究。在此基础上探讨了稀土硬质合金未来研究的方向,为稀土硬质合金的... 综述了稀土元素对硬质合金颗粒均匀化的作用、固溶强化作用、对晶界的净化作用、对Co相的作用及对硬质合金的强韧化作用,但这些作用机理并未得到完全认同,还需深入研究。在此基础上探讨了稀土硬质合金未来研究的方向,为稀土硬质合金的产业化提供参考。 展开更多
关键词 硬质合金 稀土 性能 作用机理 再生
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高密度芳纶纸蜂窝的磨削试验 被引量:5
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作者 王毅丹 康仁科 +3 位作者 白杜娟 马义新 董志刚 史耀辉 《金刚石与磨料磨具工程》 CAS 北大核心 2018年第6期48-53,共6页
高密度芳纶纸蜂窝是航空航天领域常用的减重复合材料,由韧性较大的芳纶纤维和含量较高的脆性树脂固化而成,固化成型后很难加工。为了满足其加工需求,根据该材料的组成成分和结构特点,用金刚石砂轮进行高密度蜂窝的磨削加工工艺试验,归... 高密度芳纶纸蜂窝是航空航天领域常用的减重复合材料,由韧性较大的芳纶纤维和含量较高的脆性树脂固化而成,固化成型后很难加工。为了满足其加工需求,根据该材料的组成成分和结构特点,用金刚石砂轮进行高密度蜂窝的磨削加工工艺试验,归纳出其在磨削加工后出现的3种典型加工特征形貌,即双层芳纶纸变宽形貌、未分离切屑和纤维拔出;并通过单因素试验法,研究磨削速度、进给速度和磨削深度对其表面形貌的影响。试验结果表明:不同工艺参数对高密度蜂窝加工形貌的影响差异较大。当磨削速度由5.2m/s提高至20.9m/s时,3种特征形貌均得到改善;当进给速度从50mm/min提升为350mm/min时,纤维拔出数量增多;当磨削深度从0.1mm增加为0.9mm时,未分离切屑的平均宽度变大。 展开更多
关键词 高密度芳纶纸蜂窝 磨削参数 表面形貌
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大尺寸硅片边缘抛光技术 被引量:1
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作者 李耀东 库黎明 +3 位作者 刘斌 王新 郑琪 刘红艳 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2016年第11期831-835,共5页
重掺衬底硅片在经历高温外延加工过程中,硅片边缘的损伤会在硅片的外延层上形成位错缺陷。对边缘初始状态一致的直径为200 mm硅单晶片进行酸腐蚀、机械抛光、化学机械抛光及机械抛光加化学机械抛光等不同条件下的边缘抛光实验,使用显微... 重掺衬底硅片在经历高温外延加工过程中,硅片边缘的损伤会在硅片的外延层上形成位错缺陷。对边缘初始状态一致的直径为200 mm硅单晶片进行酸腐蚀、机械抛光、化学机械抛光及机械抛光加化学机械抛光等不同条件下的边缘抛光实验,使用显微镜观察抛光片的边缘形貌,使用三维光学表面分析仪对抛光片的表面粗糙度进行测量,之后对抛光后的样品进行外延加工,对比经过不同加工方式的抛光后硅片边缘损伤的残留程度。结果表明,酸腐蚀能够去除硅片边缘绝大部分的损伤,机械抛光会重新带入机械损伤,机械抛光后再进行化学机械抛光能彻底消除硅片边缘的损伤层,但相对成本较高。化学机械抛光也能够彻底去除硅片边缘的损伤层,是大尺寸衬底硅片边缘抛光的最优加工工艺。 展开更多
关键词 硅片 边缘损伤 机械抛光 化学机械抛光(CMP) 外延加工
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木制儿童用品中6种木材防腐剂的迁移规律研究 被引量:1
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作者 王志娟 赵而敬 +2 位作者 张庆 白桦 吕庆 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第1期17-22,共6页
基于气相色谱-串联质谱(GC-MS/MS)技术建立了6种防腐剂总量及迁移量的测定方法,通过搭建迁移装置并模拟实际暴露场景,对自制阳性样品中6种防腐剂在模拟唾液和汗液中的迁移规律进行研究,并计算出不同时刻的迁移率。结果表明,在迁移2 min^... 基于气相色谱-串联质谱(GC-MS/MS)技术建立了6种防腐剂总量及迁移量的测定方法,通过搭建迁移装置并模拟实际暴露场景,对自制阳性样品中6种防腐剂在模拟唾液和汗液中的迁移规律进行研究,并计算出不同时刻的迁移率。结果表明,在迁移2 min^96 h范围内,防腐剂的迁移量均随时间延长而逐渐增大,最终达到迁移平衡,迁移率为2.1%~61.7%(唾液),2.2%~86.4%(汗液)。在样品与模拟液仅接触2 min时有6种物质检出,迁移率分别为2.1%~4.2%(唾液)和2.2%~3.3%(汗液)。部分实际样品中检出了2,4-二氯苯酚和2,4,6-三氯苯酚,鉴于儿童日常生活中短时间持续接触样品的特点,选取两个实际阳性样品测定了其在2~30 min的迁移量及迁移率。 展开更多
关键词 木制儿童用品 木材防腐剂 迁移规律 迁移率 气相色谱-串联质谱
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基于YAG∶Ce3+荧光粉复合Eu3+掺杂荧光玻璃的激光照明器件 被引量:10
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作者 郑飞 茅云蔚 +7 位作者 杨波波 邹军 刘祎明 谢宇 汤子睿 库黎明 邵鹏睿 陈狄杰 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第7期842-848,共7页
采用结晶法和低温共烧结法制备了Eu3+掺杂的Y3Al5O12∶Ce^3+荧光玻璃,对制备出的样品进行能量色散X射线谱和光致发光光谱测试,表明稀土离子Eu^3+与YAG∶Ce^3+荧光粉已掺入荧光玻璃。掺杂不同含量Eu2O3的YAG∶Ce^3+荧光玻璃封装成的激光... 采用结晶法和低温共烧结法制备了Eu3+掺杂的Y3Al5O12∶Ce^3+荧光玻璃,对制备出的样品进行能量色散X射线谱和光致发光光谱测试,表明稀土离子Eu^3+与YAG∶Ce^3+荧光粉已掺入荧光玻璃。掺杂不同含量Eu2O3的YAG∶Ce^3+荧光玻璃封装成的激光照明器件在驱动电流100mA下,经过STC-4000快速光谱仪和PMS-80可见光谱分析系统测试,掺杂质量分数1%YAG∶Ce^3+复合质量分数9%的Eu3+的荧光玻璃封装的激光照明器件发光效率为267.1lm/W。激光照明器件随着电流的增加,其显色指数逐渐增大,但增加幅度较小。 展开更多
关键词 结晶法 低温共烧结法 荧光玻璃 激光照明器件
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抛光工艺对硅片表面Haze值的影响 被引量:3
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作者 王永涛 赵而敬 +4 位作者 尚锐刚 李明飞 鲁进军 张建 蔡丽艳 《半导体技术》 CSCD 北大核心 2017年第12期918-922,共5页
随着超大规模集成电路的快速发展,硅片表面的Haze值对于现代半导体器件工艺的影响也越来越受到人们的重视。通过实验研究了精抛光工艺参数对硅片表面Haze值的影响规律。结果表明,随着抛光时间的延长,硅的去除量逐渐增大,硅片表面Haze值... 随着超大规模集成电路的快速发展,硅片表面的Haze值对于现代半导体器件工艺的影响也越来越受到人们的重视。通过实验研究了精抛光工艺参数对硅片表面Haze值的影响规律。结果表明,随着抛光时间的延长,硅的去除量逐渐增大,硅片表面Haze值逐渐降低;同时抛光过程中机械作用与化学作用的协同作用对Haze值也有较大影响。随着抛光液温度的降低与抛光液体积流量的减小,化学作用减弱,硅片表面Haze值逐渐减小。而随着抛光压力的增大,机械作用逐渐起主导作用,硅片表面Haze值逐渐降低。但当Haze值降低到某一数值后,随着硅去除量的增大、抛光液温度的下降、抛光液体积流量的降低、抛光压力的增大,硅片表面的Haze值基本保持不变。 展开更多
关键词 Haze值 化学机械抛光(CMP) 微粗糙度 抛光液 硅片
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变温生长多晶硅对8 inch硅片几何参数影响
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作者 曲翔 徐继平 +4 位作者 王海涛 何宇 王新 杨凯 王磊 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第7期1474-1479,共6页
随着硅片技术的不断发展,硅片背表面沉积多晶硅技术得到了广泛应用。在硅片背表面沉积多晶硅时,温度是其整个过程中最重要的控制参数。通过改变620℃与660℃沉积膜厚比例,测试不同膜厚比例的翘曲、弯曲、晶粒大小、洁净区深度等重要参数... 随着硅片技术的不断发展,硅片背表面沉积多晶硅技术得到了广泛应用。在硅片背表面沉积多晶硅时,温度是其整个过程中最重要的控制参数。通过改变620℃与660℃沉积膜厚比例,测试不同膜厚比例的翘曲、弯曲、晶粒大小、洁净区深度等重要参数,并结合实际需求,确定了以先620℃沉积200 nm,再用660℃沉积600 nm的工艺。该工艺既能满足后道工序对于洁净区的要求,又能有效降低硅片的几何形变。 展开更多
关键词 多晶硅沉积 弯曲 翘曲
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