期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
外延GaNAs薄膜价带分裂随温度变化的研究 被引量:1
1
作者 陈雪梅 唐利斌 +2 位作者 万锐敏 王茺 杨宇 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第20期31-34,共4页
利用分子束外延(MBE)技术在GaAs(001)衬底上生长了GaN0.01As0.99薄膜,然后使用光调制反射(PR)光谱研究了薄膜的光学性质和能带结构。PR光谱实验表明GaN0.01As0.99/GaAs薄膜价带在Γ点发生轻、重空穴分裂,且分裂的轻、重空穴带到导带边的... 利用分子束外延(MBE)技术在GaAs(001)衬底上生长了GaN0.01As0.99薄膜,然后使用光调制反射(PR)光谱研究了薄膜的光学性质和能带结构。PR光谱实验表明GaN0.01As0.99/GaAs薄膜价带在Γ点发生轻、重空穴分裂,且分裂的轻、重空穴带到导带边的2个跃迁峰随着温度的升高均发生红移。采用Varshni法则、Bose-Einstein关系和BAC模型分别对轻、重空穴的能隙分裂和红移特征进行了拟合。分析结果表明,随着温度的升高,Ga-NAs外延层与GaAs衬底间晶格失配的减少可能是导致应变能和价带分裂能量减少的主要因素。 展开更多
关键词 GaNxAs1-x薄膜 价带分裂 晶格膨胀 温度
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部