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数字调谐系统芯片DTS0614的可测性设计
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作者 居水荣 滕青 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第9期9-13,共5页
介绍了集成电路可测性设计的概念和分类方法,然后以数字调谐系统芯片DTS0614为例,具体介绍了其中的一种即针对性可测性设计方法,包括模块划分、增加控制线和观察点。最后给出了提高电路可测性的另一种方法——内建自测试方法。
关键词 DTS0614 可测性设计 数字调谐系统 内建自测试 集成电路
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