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数字调谐系统芯片DTS0614的可测性设计
1
作者
居水荣
滕青
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第9期9-13,共5页
介绍了集成电路可测性设计的概念和分类方法,然后以数字调谐系统芯片DTS0614为例,具体介绍了其中的一种即针对性可测性设计方法,包括模块划分、增加控制线和观察点。最后给出了提高电路可测性的另一种方法——内建自测试方法。
关键词
DTS0614
可测性设计
数字调谐系统
内建自测试
集成电路
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职称材料
题名
数字调谐系统芯片DTS0614的可测性设计
1
作者
居水荣
滕青
机构
无锡盈泰科技有限公司
无锡
华晶上华半导体
有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第9期9-13,共5页
文摘
介绍了集成电路可测性设计的概念和分类方法,然后以数字调谐系统芯片DTS0614为例,具体介绍了其中的一种即针对性可测性设计方法,包括模块划分、增加控制线和观察点。最后给出了提高电路可测性的另一种方法——内建自测试方法。
关键词
DTS0614
可测性设计
数字调谐系统
内建自测试
集成电路
Keywords
design for testability
digital tuning system
build-in self test
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
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操作
1
数字调谐系统芯片DTS0614的可测性设计
居水荣
滕青
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002
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