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用于光电仪器和相关测量的自混合干涉技术(特邀)
被引量：
8
1
作者
DONATI Silvano
王昭
禹延光
《中国光学》
EI
CAS
2012年第2期93-115,共23页
回顾了一种全新结构的干涉仪—自混合干涉仪(SMI)的发展情况。SMI由于其在激光器外部无需任何光学元件且应用范围广泛而倍受关注。SMI可用于测量与光路长度有关的一些量(如位移、小幅度振动、速度),也可用于测量弱光的回波(即回波损耗...
回顾了一种全新结构的干涉仪—自混合干涉仪(SMI)的发展情况。SMI由于其在激光器外部无需任何光学元件且应用范围广泛而倍受关注。SMI可用于测量与光路长度有关的一些量(如位移、小幅度振动、速度),也可用于测量弱光的回波(即回波损耗和隔离因子的测量)并可表征与介质相互作用特性相关的物理参数(如激光线宽、相干长度以及α因子等)。SMI是一种相干探测方法,其工作在靠近接收场的量子极限处,目前对散射目标物的最小探测幅值可达槡20 pm/(Hz)～(1/2)甚至更高,使用角锥棱镜使其计数步长为半波长,在动态范围为2 m时其分辨率约为0.5μm。另外,SMI结构紧凑、易于现场安装且可用于MEMS测试、旋转机械振动测试和生物运行测试等各种实验。
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关键词
自混合干涉术
光学仪器
曲线拟合
激光二极管
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职称材料
题名
用于光电仪器和相关测量的自混合干涉技术(特邀)
被引量：
8
1
作者
DONATI Silvano
王昭
禹延光
机构
意大利帕维亚大学电子系
西安交通
大学
机械工程学院
澳
大利
亚伍伦贡
大学
电子
、计算机及通讯工程学院
出处
《中国光学》
EI
CAS
2012年第2期93-115,共23页
文摘
回顾了一种全新结构的干涉仪—自混合干涉仪(SMI)的发展情况。SMI由于其在激光器外部无需任何光学元件且应用范围广泛而倍受关注。SMI可用于测量与光路长度有关的一些量(如位移、小幅度振动、速度),也可用于测量弱光的回波(即回波损耗和隔离因子的测量)并可表征与介质相互作用特性相关的物理参数(如激光线宽、相干长度以及α因子等)。SMI是一种相干探测方法,其工作在靠近接收场的量子极限处,目前对散射目标物的最小探测幅值可达槡20 pm/(Hz)～(1/2)甚至更高,使用角锥棱镜使其计数步长为半波长,在动态范围为2 m时其分辨率约为0.5μm。另外,SMI结构紧凑、易于现场安装且可用于MEMS测试、旋转机械振动测试和生物运行测试等各种实验。
关键词
自混合干涉术
光学仪器
曲线拟合
激光二极管
Keywords
self-mixing interferometry
optical instruments
curve fitting
laser diodes
分类号
TH744.3 [机械工程—光学工程]
O436.1 [机械工程—光学工程]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用于光电仪器和相关测量的自混合干涉技术(特邀)
DONATI Silvano
王昭
禹延光
《中国光学》
EI
CAS
2012
8
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