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半导体可饱和吸收反射镜的损伤机制研究
被引量：
2
1
作者
张靓
Joerg Neuhaus
Thomas Dekorsy
《长春理工大学学报（自然科学版）》
2011年第4期20-22,26,共4页
随着超快激光器向高功率、高脉冲能量发展,半导体可饱和吸收反射镜(SESAM)的损伤机制和高阈值SESAM的研究必不可少,本文用热像仪对高功率超快激光器中工作的SESAM进行热成像,得出不同腔型、不同功率超快激光器中工作的SESAM的热成像图...
随着超快激光器向高功率、高脉冲能量发展,半导体可饱和吸收反射镜(SESAM)的损伤机制和高阈值SESAM的研究必不可少,本文用热像仪对高功率超快激光器中工作的SESAM进行热成像,得出不同腔型、不同功率超快激光器中工作的SESAM的热成像图。用平均功率约为83W,单脉冲能量约为24μJ,重复频率为3.4MHz的高功率超快激光器发出的激光脉冲作用于SESAM时,观察到了SESAM表面的热损伤,并用干涉测量法对其表面进行面形分析。
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关键词
超快激光器
半导体可饱和吸收反射镜(SESAM)
热像仪
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职称材料
题名
半导体可饱和吸收反射镜的损伤机制研究
被引量：
2
1
作者
张靓
Joerg Neuhaus
Thomas Dekorsy
机构
长春理工
大学
理学院
德国康斯坦茨大学物理系
出处
《长春理工大学学报（自然科学版）》
2011年第4期20-22,26,共4页
文摘
随着超快激光器向高功率、高脉冲能量发展,半导体可饱和吸收反射镜(SESAM)的损伤机制和高阈值SESAM的研究必不可少,本文用热像仪对高功率超快激光器中工作的SESAM进行热成像,得出不同腔型、不同功率超快激光器中工作的SESAM的热成像图。用平均功率约为83W,单脉冲能量约为24μJ,重复频率为3.4MHz的高功率超快激光器发出的激光脉冲作用于SESAM时,观察到了SESAM表面的热损伤,并用干涉测量法对其表面进行面形分析。
关键词
超快激光器
半导体可饱和吸收反射镜(SESAM)
热像仪
Keywords
ultrafast laser
semiconductor saturable absorber mirror（SESAM）
thermal imager
分类号
O472.2 [理学—半导体物理]
O434.14 [机械工程—光学工程]
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作者
出处
发文年
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1
半导体可饱和吸收反射镜的损伤机制研究
张靓
Joerg Neuhaus
Thomas Dekorsy
《长春理工大学学报（自然科学版）》
2011
2
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