期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
IEEE1149.4测试系统的研究与设计
被引量：
5
1
作者
李正光
雷加
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2004年第6期128-130,134,共4页
分析了符合IEEE1149.4标准IC的工作机制及其对测试系统的功能需求,设计了符合IEEE1149.4标准的测试系统,重点论述了IEEE1149.4测试系统的设计方案。测试系统的仿真和运行表明,该系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、...
分析了符合IEEE1149.4标准IC的工作机制及其对测试系统的功能需求,设计了符合IEEE1149.4标准的测试系统,重点论述了IEEE1149.4测试系统的设计方案。测试系统的仿真和运行表明,该系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,设计方案正确,结构简单。
展开更多
关键词
IEEE1149.4
边界扫描
测试系统
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
IEEE1149.4测试系统的研究与设计
被引量：
5
1
作者
李正光
雷加
机构
广西桂林电子工业学院电子工程系cat研究室
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2004年第6期128-130,134,共4页
基金
国家部委项目资助(编号:41323020109)
文摘
分析了符合IEEE1149.4标准IC的工作机制及其对测试系统的功能需求,设计了符合IEEE1149.4标准的测试系统,重点论述了IEEE1149.4测试系统的设计方案。测试系统的仿真和运行表明,该系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,设计方案正确,结构简单。
关键词
IEEE1149.4
边界扫描
测试系统
Keywords
IEEE1149.4,Boundary Scan,Test System
分类号
TP302 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
IEEE1149.4测试系统的研究与设计
李正光
雷加
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2004
5
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
