常规馈通电压计算原理涉及到OLED体的电容值,不同型号OLED产品电容值是个变量,为了得到最佳的电容值,OLED制造企业测试部门需做大量的验证实验。本文直接通过栅极电压上拉使OLED体的储存电容产生馈通电压来补偿栅极电压关闭时栅极和漏...常规馈通电压计算原理涉及到OLED体的电容值,不同型号OLED产品电容值是个变量,为了得到最佳的电容值,OLED制造企业测试部门需做大量的验证实验。本文直接通过栅极电压上拉使OLED体的储存电容产生馈通电压来补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间寄生电容产生的馈通电压,无需测量OLED体的电容值和修正Vcom值即可补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间的寄生电容产生的馈通电压。实验结果表明,基于馈通电压自动补偿原理设计的Shorting Bar Test Waveform与Vcom人工修正原理设计的电性能测试波形的检测效果一致,而对不同缺陷的检测率有微小差异。展开更多
GOA型TFT LCD产品Shorting Bar testing工序烧伤现象严重,针对把根源归结为Shorting Bar Testing工序测试参数电压过高的假设,设计一个Source电压远高于理论测试电压的测试波形,分别以高压值参数和理论值参数对样品进行测试,结果发现两...GOA型TFT LCD产品Shorting Bar testing工序烧伤现象严重,针对把根源归结为Shorting Bar Testing工序测试参数电压过高的假设,设计一个Source电压远高于理论测试电压的测试波形,分别以高压值参数和理论值参数对样品进行测试,结果发现两种情况下烧伤概率一样;针对把根源归结为Shorting Bar testing工序驱动程序启动瞬间冲击烧伤的假设,在测试驱动板上每个测试信号输入口加一个限流器,用加限流器和没加限流器的测试治具分别对样品进行测试,结果发现两者烧伤概率一样;针对把根源归结为静电击伤的假设,在Shorting Bar testing工序增加防静电措施,分别在改进前后的测试环境对样品进行测试,发现改进后未出现烧伤现象。可见出烧伤现象的根源在于静电,而非其他原因。展开更多
文摘常规馈通电压计算原理涉及到OLED体的电容值,不同型号OLED产品电容值是个变量,为了得到最佳的电容值,OLED制造企业测试部门需做大量的验证实验。本文直接通过栅极电压上拉使OLED体的储存电容产生馈通电压来补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间寄生电容产生的馈通电压,无需测量OLED体的电容值和修正Vcom值即可补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间的寄生电容产生的馈通电压。实验结果表明,基于馈通电压自动补偿原理设计的Shorting Bar Test Waveform与Vcom人工修正原理设计的电性能测试波形的检测效果一致,而对不同缺陷的检测率有微小差异。
文摘GOA型TFT LCD产品Shorting Bar testing工序烧伤现象严重,针对把根源归结为Shorting Bar Testing工序测试参数电压过高的假设,设计一个Source电压远高于理论测试电压的测试波形,分别以高压值参数和理论值参数对样品进行测试,结果发现两种情况下烧伤概率一样;针对把根源归结为Shorting Bar testing工序驱动程序启动瞬间冲击烧伤的假设,在测试驱动板上每个测试信号输入口加一个限流器,用加限流器和没加限流器的测试治具分别对样品进行测试,结果发现两者烧伤概率一样;针对把根源归结为静电击伤的假设,在Shorting Bar testing工序增加防静电措施,分别在改进前后的测试环境对样品进行测试,发现改进后未出现烧伤现象。可见出烧伤现象的根源在于静电,而非其他原因。
