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基于3D视觉的产品缺陷检测技术研究
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作者 凌均健 徐东华 《广东水利电力职业技术学院学报》 2025年第1期11-16,共6页
针对电子/半导体等行业的工业产品缺陷区弱小、难检测问题,研究基于高性能工业相机的高分辨3D缺陷成像技术;面向种类繁多、形状复杂的缺陷,研究基于深度学习的高精度、高鲁棒性的缺陷检测方法。研究的技术及方法可实现工业产品表面缺陷... 针对电子/半导体等行业的工业产品缺陷区弱小、难检测问题,研究基于高性能工业相机的高分辨3D缺陷成像技术;面向种类繁多、形状复杂的缺陷,研究基于深度学习的高精度、高鲁棒性的缺陷检测方法。研究的技术及方法可实现工业产品表面缺陷样本的快速采集、缺陷区域的准确检测及缺陷产品的智能分拣。 展开更多
关键词 半导体 3D视觉 深度学习 缺陷检测
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