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拓扑材料γ-PtBi_(2)的变温晶体结构研究
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作者 张世车 刘威 +7 位作者 杨萌 林宇 冯娅 石友国 Kenya Shimada 杨晓峰 Darren C Peets 何少龙 《核聚变与等离子体物理》 CAS CSCD 北大核心 2022年第S01期114-119,共6页
利用X射线衍射(XRD)、角分辨光电子能谱(ARPES)和能带计算的方法研究了不同温度下γ-PtBi_(2)的晶体结构。利用单晶XRD确定了室温下晶体的结构为P31m。为了确定低温时样品的晶体结构,用ARPES测得了样品的电子结构并与计算结果进行了对比... 利用X射线衍射(XRD)、角分辨光电子能谱(ARPES)和能带计算的方法研究了不同温度下γ-PtBi_(2)的晶体结构。利用单晶XRD确定了室温下晶体的结构为P31m。为了确定低温时样品的晶体结构,用ARPES测得了样品的电子结构并与计算结果进行了对比,结果显示样品的结构与P31m相吻合,这表明在低温时样品依然保持P31m结构。进一步的高温XRD研究表明,在高温时样品的晶体结构仍为P31m结构。 展开更多
关键词 拓扑 X射线衍射 晶体结构 角分辨光电子能谱
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