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化学溶液沉积法制备铁掺杂镍酸镧薄膜的结构及电学性能研究 被引量:3
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作者 陈如麒 翁嘉文 +2 位作者 劳媚媚 徐军 朱贵文 《中山大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2012年第3期60-62,共3页
采用化学溶液沉积法,在(100)取向单晶硅衬底上制备铁掺杂镍酸镧(LaNi1-xFexO3,LNFeO-x)薄膜,研究了其结构和室温下的导电特性。X射线衍射测试结果表明,经700℃1 h退火的薄膜呈钙钛矿结构,没有可以观察到的杂相生成。薄膜表面平整、致密... 采用化学溶液沉积法,在(100)取向单晶硅衬底上制备铁掺杂镍酸镧(LaNi1-xFexO3,LNFeO-x)薄膜,研究了其结构和室温下的导电特性。X射线衍射测试结果表明,经700℃1 h退火的薄膜呈钙钛矿结构,没有可以观察到的杂相生成。薄膜表面平整、致密,没有微裂痕出现。随着铁含量的增加,薄膜电阻率由1.7 mΩ.cm增加到3.9 mΩ.cm。 展开更多
关键词 LaNi1-xFexO3 LNFeO-x 化学溶液沉积法 CSD
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锆钛酸铅的纯铁电回线分析
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作者 朱贵文 沈韩 +2 位作者 刘俊刁 阮凯斌 陈敏 《中山大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2008年第4期47-50,共4页
在0~150℃范围测量了Pb(Zr0.48Ti0.52)O3(PZT)陶瓷薄片的电滞回线和微分电滞回线。发现电滞回线高度在升温过程中出现升高的现象,这与铁电唯象理论相矛盾。为此提出精确测定纯铁电参数的方法,该方法可分离出回线中直流电导,非... 在0~150℃范围测量了Pb(Zr0.48Ti0.52)O3(PZT)陶瓷薄片的电滞回线和微分电滞回线。发现电滞回线高度在升温过程中出现升高的现象,这与铁电唯象理论相矛盾。为此提出精确测定纯铁电参数的方法,该方法可分离出回线中直流电导,非铁电性电容的影响,从而得到纯铁电效应的信号。实验结果与PZT中准同型相界的存在相吻合。 展开更多
关键词 电滞回线 铁电参数 锆钛酸铅
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