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ICP-AES法测定金属硅中的Al、B、Ba、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Sr、Ti、V和Zn杂质元素
被引量：
32
1
作者
张桂广
黄奋
孙晓纲
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第1期71-73,共3页
本文提供了一种测定金属硅中B、Fe、Al、Ca、Mn等 14个杂质元素的ICP AES方法。在样品处理过程中 ,加入适量体积的甘露醇能够抑制B的挥发。用本方法测定了一个国家地球化学标准样 (GSR 4 ) 。
关键词
ICP-AES
金属硅
杂质元素
光谱分析
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职称材料
题名
ICP-AES法测定金属硅中的Al、B、Ba、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Sr、Ti、V和Zn杂质元素
被引量：
32
1
作者
张桂广
黄奋
孙晓纲
机构
广东省韶关进出口商品检验局
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第1期71-73,共3页
文摘
本文提供了一种测定金属硅中B、Fe、Al、Ca、Mn等 14个杂质元素的ICP AES方法。在样品处理过程中 ,加入适量体积的甘露醇能够抑制B的挥发。用本方法测定了一个国家地球化学标准样 (GSR 4 ) 。
关键词
ICP-AES
金属硅
杂质元素
光谱分析
Keywords
ICP AES
Silicon metal
Impurity analysis
分类号
O613.72 [理学—无机化学]
O657.3 [理学—分析化学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ICP-AES法测定金属硅中的Al、B、Ba、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Sr、Ti、V和Zn杂质元素
张桂广
黄奋
孙晓纲
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
32
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