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市场发展的趋势:高整合度SOC的测试
1
作者
张伦嘉
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第4期J002-J004,共3页
关键词
SOC
IC测试
DFT
ATPG
可测性设计
自动测试仪
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下载PDF
职称材料
题名
市场发展的趋势:高整合度SOC的测试
1
作者
张伦嘉
机构
安捷伦科技有限公司半导体测试事业部
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第4期J002-J004,共3页
关键词
SOC
IC测试
DFT
ATPG
可测性设计
自动测试仪
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
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1
市场发展的趋势:高整合度SOC的测试
张伦嘉
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
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