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基于计算谱学的纳米材料结构表征及其在石墨烯氧化物中的应用(英文) 被引量:2
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作者 张文华 殷迪 +2 位作者 卢宁 李震宇 杨金龙 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2015年第11期2081-2086,共6页
从理论上对材料结构进行表征一般是基于第一性原理电子结构计算对可能的结构模型进行能量分析,从而得到材料的基态构型.而经过复杂路径合成的纳米材料并不总是处于基态能量构型.因此,对可能的结构模型进行计算谱学模拟,然后直接与实验... 从理论上对材料结构进行表征一般是基于第一性原理电子结构计算对可能的结构模型进行能量分析,从而得到材料的基态构型.而经过复杂路径合成的纳米材料并不总是处于基态能量构型.因此,对可能的结构模型进行计算谱学模拟,然后直接与实验谱图对比,可以提供更为可靠的结构信息.本文简单介绍了谱学模拟的理论背景,以石墨烯氧化物为例展示了计算谱学在复杂纳米材料结构表征中的关键作用. 展开更多
关键词 计算谱学 石墨烯氧化物 结构表征
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