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基于椭圆偏振光谱法的玻璃表面离子束改性分析 被引量:3
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作者 孙瑶 汪洪 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第10期3388-3393,共6页
采用阳极层线性离子源解离氮气对玻璃表面进行刻蚀处理,研究表面改性后玻璃表面的变化,并分析离化电压对表面粗糙度、折射率以及光学厚度的影响。在此基础上,基于椭圆偏振光谱仪,通过对比不同表面状态下的Δ光谱,讨论固定波长变化入射... 采用阳极层线性离子源解离氮气对玻璃表面进行刻蚀处理,研究表面改性后玻璃表面的变化,并分析离化电压对表面粗糙度、折射率以及光学厚度的影响。在此基础上,基于椭圆偏振光谱仪,通过对比不同表面状态下的Δ光谱,讨论固定波长变化入射角的Δ光谱曲线特征与表面折射率、布儒斯特角、粗糙度以及光学厚度之间的关系。结果表明,刻蚀后玻璃的布儒斯特角附近的Δ光谱曲线形状发生变化,突变向高角度偏移,曲线下降斜率增大。通过建模并拟合分析发现,氮离子束轰击使玻璃表面产生光密介质层,表面折射率增大,布儒斯特角增大,粗糙度降低,且随离化电压升高,折射率不变,而光密介质层厚度增加。由原子力显微镜分析表面形貌,验证了离子束对玻璃表面的平整化作用。X射线光电子能谱结果表明离子束使玻璃表面发生选择性溅射,推断光密介质层的产生来自于离子束对玻璃表面的夯实作用。此外,推导并验证了Δ光谱曲线的特征与材料表面状态之间的普适关系,提出了基于椭圆偏振光谱仪的材料表面评估方法,即Δ曲线的突变发生角度增大说明折射率与布儒斯特角的增大;下降斜率增大说明表面粗糙度减小;曲线两端尖角增大说明光学厚度增大。反之亦然。 展开更多
关键词 椭圆偏振光谱仪 玻璃 线性离子源 布儒斯特角 粗糙度
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基于遗传算法的浮法玻璃光学常数测量与分析 被引量:3
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作者 余刚 汪洪 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 北大核心 2017年第4期1107-1112,共6页
浮法玻璃作为镀膜产品的基片,分析其光学常数是进行产品光学设计及质量控制的基础。由于反射光无法完全体现材料吸收特征、玻璃两个界面的多次反射光产生退偏问题,使利用椭偏原理分析浮法玻璃光学常数存在局限性。本文利用分光光度计测... 浮法玻璃作为镀膜产品的基片,分析其光学常数是进行产品光学设计及质量控制的基础。由于反射光无法完全体现材料吸收特征、玻璃两个界面的多次反射光产生退偏问题,使利用椭偏原理分析浮法玻璃光学常数存在局限性。本文利用分光光度计测量浮法玻璃300~2500 nm范围透射光谱,根据光谱特征,建立以高斯振子及极振子为核心的复合振子模型,共15个未知参数,利用遗传算法依据透射光谱数据分析获得最佳振子参数,得到相应的光学常数,符合浮法玻璃基本光学特性。 展开更多
关键词 光学常数 遗传算法 极振子 高斯振子 透射光谱
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光流场在光纤材料离面位移测量中的应用
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作者 赵冉 王雅楠 +4 位作者 李苗 刘波 孙勇 张洋 贾金升 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第12期88-97,共10页
为实现工业生产中光纤传像材料的微纳米尺度形变的检测,建立了图像楔面化模型,提出了一种基于光流的离面位移测量技术。实验装置由一部带有工业相机的光学显微镜和一个放置倒像器的支架构成,通过支架的倾斜可对光纤传像材料加载形变。首... 为实现工业生产中光纤传像材料的微纳米尺度形变的检测,建立了图像楔面化模型,提出了一种基于光流的离面位移测量技术。实验装置由一部带有工业相机的光学显微镜和一个放置倒像器的支架构成,通过支架的倾斜可对光纤传像材料加载形变。首先,在显微镜下用工业相机采集变形前后的两幅二维图像。接着,用Brox光流算法得到两幅图像之间的光流运动场。最后,根据图像楔面化模型,由两幅图像之间的光流场得到两幅图像之间的离面位移场并分析了实验结果。实验结果表明,在光学放大50倍的显微镜下多次测量结果的绝对误差均小于0.1μm,相对误差均小于2%。该方法只需要一部工业相机拍摄显微镜下两幅图像即可完成测量,提取离面位移时无需转换到频域和相位解包操作,适合动态原位测量。该方法测量误差较小,目前已被应用于光纤传像材料的微纳米尺度形变与均匀度工业监测。 展开更多
关键词 离面位移提取 工业检测 光流场 光纤传像材料 动态监测
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中高温太阳光谱选择性吸收涂层金属钨红外反射层的性能研究 被引量:1
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作者 杨子键 刘静 +3 位作者 汪洪 祖成奎 孟政 余刚 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第12期48-53,共6页
采用脉冲直流磁控溅射法,在不同的基片温度下制备金属钨薄膜,并对薄膜的反射光谱、电学性能、晶体结构、表面形貌等进行了分析。结果表明,在300℃基片温度下获得完全热力学稳定的体心立方α-W金属膜,并具有(110)晶面择优取向,薄膜电阻率... 采用脉冲直流磁控溅射法,在不同的基片温度下制备金属钨薄膜,并对薄膜的反射光谱、电学性能、晶体结构、表面形貌等进行了分析。结果表明,在300℃基片温度下获得完全热力学稳定的体心立方α-W金属膜,并具有(110)晶面择优取向,薄膜电阻率为22μΩ·cm,500℃发射率低于0.07。通过薄膜沉积过程中基片加热的方法,在较小的薄膜厚度,即150 nm以下,将亚稳相β-W全部转变为稳定相BBCα-W,适合中高温太阳光谱选择性吸收涂层中红外反射层的规模化制备;不同晶体结构W做红外反射层的吸热膜膜系大气环境400℃热稳定性测试进一步证实了α-W膜做红外反射层显著提高吸热膜膜系热稳定性。 展开更多
关键词 太阳能热利用 发射率 红外反射层 选择性吸收涂层 钨薄膜 基片温度
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固态全无机电致变色器件透过光谱计算与测试 被引量:3
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作者 孟政 刘静 汪洪 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第7期633-635,共3页
利用椭圆偏振仪拟合得到的褪色态电致变色层WO3、着色态电致变色层LixWOy、离子传导层Ta2O5、离子存储层NixO、Si O2薄膜折射率与消光系数,通过TFCalc光学设计软件计算器件褪色态、着色态透过光谱。发现波长550 nm处,理论器件变色幅度... 利用椭圆偏振仪拟合得到的褪色态电致变色层WO3、着色态电致变色层LixWOy、离子传导层Ta2O5、离子存储层NixO、Si O2薄膜折射率与消光系数,通过TFCalc光学设计软件计算器件褪色态、着色态透过光谱。发现波长550 nm处,理论器件变色幅度可以达到66.9%,大于实际测试光谱的56.7%(施加电压±5 V);通过增加减反层,可以进一步提高器件变色幅度至77.7%。 展开更多
关键词 固态全无机电致变色器件 TFCalc光学设计软件 褪色态 着色态
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基于遗传算法的Low-E膜系中透明介质膜层均匀性在线分析 被引量:1
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作者 余刚 汪洪 +3 位作者 杨中周 黄星烨 文凯 王桂荣 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第3期365-369,共5页
本文针对离线Low-E镀膜玻璃生产控制过程中对厚度均匀性的需求,提出依据在线测试膜层膜面反射光谱数据,建立柯西光学模型利用遗传算法分析膜层厚度均匀性的方法。采用的在线光谱测量装置安装于镀膜设备产品出口端,在镀膜玻璃宽度方向可... 本文针对离线Low-E镀膜玻璃生产控制过程中对厚度均匀性的需求,提出依据在线测试膜层膜面反射光谱数据,建立柯西光学模型利用遗传算法分析膜层厚度均匀性的方法。采用的在线光谱测量装置安装于镀膜设备产品出口端,在镀膜玻璃宽度方向可以测量24个位置的380~780nm波长范围。研究表明在分析过程利用各点平均光谱由遗传算法分析获得膜层折射率及平均厚度,针对性地建立膜层材料在特定厚度范围内的颜色与厚度关系,在保证分析结果正确性的同时提高了数据分析效率。 展开更多
关键词 遗传算法 柯西模型 介质膜层 Low-E膜系 均匀性
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单目显微成像系统三维形变测量方法 被引量:2
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作者 赵冉 李轩 +3 位作者 刘波 焦朋 黄永刚 贾金升 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第6期91-102,共12页
为实现玻璃光纤、石英光纤等光学产品高精度、低成本的三维微纳尺度形变检测,提出了一种单目显微成像系统三维形变测量新方法。根据图像球面化算法建立了面内位移与离面位移的几何关系,在采用数字图像相关算法或光流法测量变形前后图像... 为实现玻璃光纤、石英光纤等光学产品高精度、低成本的三维微纳尺度形变检测,提出了一种单目显微成像系统三维形变测量新方法。根据图像球面化算法建立了面内位移与离面位移的几何关系,在采用数字图像相关算法或光流法测量变形前后图像的面内位移后,根据常规斜面模型从面内位移中提取离面位移,完成三维形变测量。模拟实验与应用实验的结果表明在50倍光学显微镜下测量的绝对误差均小于0.2μm,证实了方法的有效性。该方法充分利用了面内位移场携带的离面位移信息,只需要一部工业相机拍摄显微镜下两幅图像即可完成测量,提取离面位移时无需转换到频域和相位解包操作,具有检测成本低、光路简单、普适性强等优势。目前该方法已被用于玻璃光纤、石英光纤等光学产品的工业生产检测与监控中,同时为其它固体材料的微纳米尺度形变动态测量提供了新的思路。 展开更多
关键词 工业检测 机器视觉 图像球面化算法 光纤材料 三维形变测量 单目显微成像
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