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用共聚焦显微镜观察角膜原位磨镶术术后角膜基质中“低细胞区”形态学改变 被引量:1
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作者 乔丽萍 孙惠敏 +2 位作者 赵少贞 杨柳 袁佳琴 《医学研究生学报》 CAS 2011年第8期831-834,共4页
目的角膜原位磨镶术(Laserin situ keratom ileusis,LASIK)通过制作角膜瓣,在其下基质中用激光切削组织,改变角膜曲率,达到矫正屈光不正的目的。文中旨在应用共聚焦显微镜探讨LASIK术后远期角膜基质中"低细胞区域"的相关因素... 目的角膜原位磨镶术(Laserin situ keratom ileusis,LASIK)通过制作角膜瓣,在其下基质中用激光切削组织,改变角膜曲率,达到矫正屈光不正的目的。文中旨在应用共聚焦显微镜探讨LASIK术后远期角膜基质中"低细胞区域"的相关因素。方法设计自身配对实验研究。选择2003年4月至2009年7月期间在天津医科大学眼科中心屈光手术门诊和武警医学院附属医院眼科就诊LASIK手术的病例34人(68眼),按等效屈光度分为2组,屈光度<-6.0D为低、中度近视眼组37眼,屈光度>-6.0D为高度近视眼组31眼。分别在术前、术后第1、3、7、10、30、60、90天,应用活体共聚焦显微镜(Con-foscan 3.0)观察中央角膜基质细胞形态学改变,测量角膜各层厚度并进行相关性分析。结果 68眼(100%)中央角膜见到平均深度为(44.01±10.67)μm的低细胞区域。低细胞区内的角膜细胞核排列无序,细胞核形态与正常角膜细胞核有异,细胞核反射亮度正常,细胞缺失区呈片状。低、中度近视眼与高度近视眼的界面角膜细胞核数、低细胞区域深度差异无统计学意义。结论角膜原位磨镶术后远期角膜基质出现"低细胞区",分析低细胞区的深度与手术时间、年龄、术前屈光状态、激光削切深度、激光能量、角膜瓣基质厚度、角膜瓣厚度、剩余基质床厚度、上皮厚度以及均无相关性。。 展开更多
关键词 角膜原位磨镶术 角膜基质 远期 低细胞区域 共聚显微镜 活体
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