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(Na_(1/2)Bi_(1/2))TiO_3-SrTiO_3无铅压电陶瓷的介电、压电性能 被引量:23
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作者 吴裕功 马晋毅 +2 位作者 董向红 邢磊 谢道华 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2000年第6期370-372,共3页
研究了 (Na1 / 2 Bi1 / 2 ) Ti O3- Sr Ti O3二元系无铅压电陶瓷的介电、压电性性。Sr2 +的引入对 NBT材料的常温介电系数、铁电相与反铁电相转变温度 TF A(180°C)以及居里温度 TC(30 0°C)的影响都不大 ,但却较大幅度地降低了... 研究了 (Na1 / 2 Bi1 / 2 ) Ti O3- Sr Ti O3二元系无铅压电陶瓷的介电、压电性性。Sr2 +的引入对 NBT材料的常温介电系数、铁电相与反铁电相转变温度 TF A(180°C)以及居里温度 TC(30 0°C)的影响都不大 ,但却较大幅度地降低了 NBT材料的高矫顽场 ,从而使极化相对容易。(Na1 / 2 Bi1 / 2 ) Ti O3- Sr Ti O3二元系的压电性能参数 d33和 kt分别达到 10 0 p C/N和 0 . 展开更多
关键词 压电陶瓷 钛酸铋钠 介电性能 压电性能
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A位非等配比对(NaBi)_(0.5(1-x)(Ba) _x TiO_3 性能的影响 被引量:7
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作者 马晋毅 谢道华 +1 位作者 吴裕功 胡明 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2003年第3期224-226,共3页
研究了A位非等配比——过量Bi3+(Bi3+:Na1+>1:1)对(NaBi)0.5(1-x)(Ba)xTiO3材料的介电、压电性能的影响。随着引入的过量Bi3+的增加,材料的介电常数和损耗均呈先下降后增大的现象。当Bi3+∶Na+=52∶48时,(NaBi)0.5(1-x)(Ba)xTiO3复... 研究了A位非等配比——过量Bi3+(Bi3+:Na1+>1:1)对(NaBi)0.5(1-x)(Ba)xTiO3材料的介电、压电性能的影响。随着引入的过量Bi3+的增加,材料的介电常数和损耗均呈先下降后增大的现象。当Bi3+∶Na+=52∶48时,(NaBi)0.5(1-x)(Ba)xTiO3复合材料的d33、kt值都达到最大值。 展开更多
关键词 无铅 压电陶瓷 钛酸铋钠 A位非等配比 介电常数 介电损耗
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NBT-NaNbO_3-BaTiO_3无铅压电材料的研究 被引量:7
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作者 马晋毅 谢道华 +1 位作者 吴裕功 胡明 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2003年第4期303-304,307,共3页
主要研究了(NaBi)0.5TiO3-NaNbO3-BaTiO3三元系无铅压电材料的介电、压电性能。随着第三种材料BaTiO3引入量的增加,三元系材料的介电常数和损耗均出现增大的现象。当n(Ba2+)=0.02mol时,三元系材料的压电常数d33、机电耦合系数kt值都达... 主要研究了(NaBi)0.5TiO3-NaNbO3-BaTiO3三元系无铅压电材料的介电、压电性能。随着第三种材料BaTiO3引入量的增加,三元系材料的介电常数和损耗均出现增大的现象。当n(Ba2+)=0.02mol时,三元系材料的压电常数d33、机电耦合系数kt值都达到最大值100pC/N和0.41。 展开更多
关键词 无铅 压电陶瓷 钛酸铋钠
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NBT基无铅压电陶瓷滤波器 被引量:6
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作者 马晋毅 谢道华 +1 位作者 刘光聪 林廷芬 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2003年第5期373-375,共3页
主要研究了用改性的(NaBi)_(0.5) TiO_3(NBT)基无铅压电材料制作的压电陶瓷滤波器。在研究过程中出现很多不同于以往的情况,这些一方面是由于NBT基材料与传统PZT基材料的介电性能有较大差异造成的,另一方面说明NBT基材料的压电性能较PZ... 主要研究了用改性的(NaBi)_(0.5) TiO_3(NBT)基无铅压电材料制作的压电陶瓷滤波器。在研究过程中出现很多不同于以往的情况,这些一方面是由于NBT基材料与传统PZT基材料的介电性能有较大差异造成的,另一方面说明NBT基材料的压电性能较PZT基材料还有进一步提高的必要。 展开更多
关键词 无铅 压电陶瓷 NBT(钛酸铋钠) 滤波器
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近红外Si_(0.8)Ge_(0.2)/Si横向pin探测器的模拟与测试 被引量:1
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作者 莫太山 张世林 +2 位作者 郭维廉 郭辉 郑云光 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期311-315,共5页
设计了一种新型叉指状近红外 Si0 .8Ge0 .2 / Si pin横向光电探测器。采用半导体器件模拟软件 Atlas分别对该器件平衡条件下物理特性及反向偏压下电场分布、光电特性进行了模拟 ;对实际制作的光电探测器进行了测试 ,结果表明 :其波长响... 设计了一种新型叉指状近红外 Si0 .8Ge0 .2 / Si pin横向光电探测器。采用半导体器件模拟软件 Atlas分别对该器件平衡条件下物理特性及反向偏压下电场分布、光电特性进行了模拟 ;对实际制作的光电探测器进行了测试 ,结果表明 :其波长响应范围为 0 .4~ 1 .3μm,峰值响应波长在 0 .93μm,响应度达 0 .3 8A/ W,寄生电容小于 2 .0 p F。实验结果和模拟结果符合得很好。其良好的光电性能为应用于近红外光的高速。 展开更多
关键词 光电集成电路 Si0.8Ge0.2/Si-pin 横向光电探测器 模拟 光电性能 近红外光
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SiGe沟道SOI CMOS的设计及模拟 被引量:1
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作者 李树荣 王纯 +5 位作者 王静 郭维廉 郑云光 郑元芬 陈培毅 黎晨 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2003年第2期214-218,共5页
在 SOI(Silicon on Insulator)结构硅膜上面生长一层 Si Ge合金 ,采用类似 SOICMOS工艺制作成具有Si Ge沟道的 SOICMOS集成电路。该电路不仅具有 SOICMOS电路的优点 ,而且因为 Si Ge中的载流子迁移率明显高于 Si中载流子的迁移率 ,所以... 在 SOI(Silicon on Insulator)结构硅膜上面生长一层 Si Ge合金 ,采用类似 SOICMOS工艺制作成具有Si Ge沟道的 SOICMOS集成电路。该电路不仅具有 SOICMOS电路的优点 ,而且因为 Si Ge中的载流子迁移率明显高于 Si中载流子的迁移率 ,所以提高了电路的速度和驱动能力。另外由于两种极性的 SOI MOSFET都采用 Si Ge沟道 ,就避免了只有 SOIPMOSFET采用 Si Ge沟道带来的选择性生长 Si Ge层的麻烦。采用二维工艺模拟得到了器件的结构 ,并以此结构参数进行了器件模拟。模拟结果表明 ,N沟和 P沟两种 MOSFET的驱动电流都有所增加 。 展开更多
关键词 SIGE CMOS集成电路 锗—硅合金 锗—硅沟道SOI互补金属—氧化物—半导体 设计
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光电双向负阻晶体管的数值模拟与实验研究
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作者 莫太山 张世林 +3 位作者 郭维廉 梁惠来 毛陆虹 郑云光 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期1260-1263,共4页
光电双向负阻晶体管 (PBNRT)是一种新型S型光电负阻器件 .本文对它的光电负阻特性进行了数值模拟和实验研究 ,给出了器件等效电路 .PBNRT在光电混合工作模式下具有光控电流开关效应 ,可通过光照和控制电压两种控制方式改变器件的S型负... 光电双向负阻晶体管 (PBNRT)是一种新型S型光电负阻器件 .本文对它的光电负阻特性进行了数值模拟和实验研究 ,给出了器件等效电路 .PBNRT在光电混合工作模式下具有光控电流开关效应 ,可通过光照和控制电压两种控制方式改变器件的S型负阻特性 .模拟和实验结果均表明 :光照强度增大 ,维持电压基本保持不变 ,转折电压减小 ,负阻电压摆幅减小 ;而增大控制电压 ,维持电压和转折电压均增大 ,输出负阻特性曲线右移 .上述特点使得PBNRT可望在光电开关、光控振荡和光电探测等方面有很好的应用前景 . 展开更多
关键词 光电双向负阻晶体管 S型光电负阻 光控电流开关 数值模拟
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