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无铅BGA封装可靠性的力学试验与分析 被引量:7
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作者 娄浩焕 朱笑郓 +2 位作者 瞿欣 Taekoo Lee Hui Wang 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期36-40,共5页
着重研究了机械冲击和应力对无铅BGA 封装焊点可靠性的影响,介绍了BGA 封装的可靠性力学试验(跌落、弯曲试验)及其分析方法。通过对力学试验中失效焊点的分析以及借助A N S Y S 模拟工具,找出引起失效的根本原因,为开发性能更好、高可... 着重研究了机械冲击和应力对无铅BGA 封装焊点可靠性的影响,介绍了BGA 封装的可靠性力学试验(跌落、弯曲试验)及其分析方法。通过对力学试验中失效焊点的分析以及借助A N S Y S 模拟工具,找出引起失效的根本原因,为开发性能更好、高可靠性的无铅材料、改进无铅工艺提供依据。 展开更多
关键词 无铅焊料 网格焊球阵列 跌落/弯曲试验 可靠性
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