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混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置
被引量：
2
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作者
刘冠军
温熙森
+1 位作者
曾芷德
易晓山
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2000年第10期792-795,共4页
由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在 ,板中由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题 .为减少其测试时间 ,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术 ,提出...
由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在 ,板中由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题 .为减少其测试时间 ,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术 ,提出了一种多边界扫描链优化配置技术 .经实例验证表明 ,该技术可以有效地减少混合技术电路板簇测试时间 。
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关键词
边界扫描
簇测试
混合技术电路板
VLSI
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职称材料
题名
混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置
被引量：
2
1
作者
刘冠军
温熙森
曾芷德
易晓山
机构
国防科技大学智能监控与故障诊断研究室
国防科技大学
计算机学院
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2000年第10期792-795,共4页
文摘
由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在 ,板中由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题 .为减少其测试时间 ,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术 ,提出了一种多边界扫描链优化配置技术 .经实例验证表明 ,该技术可以有效地减少混合技术电路板簇测试时间 。
关键词
边界扫描
簇测试
混合技术电路板
VLSI
Keywords
boundary scan, clusters testing, mixed technology board
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置
刘冠军
温熙森
曾芷德
易晓山
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2000
2
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