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VLSI电路功能测试码的生成
1
作者
盛运焕
李少青
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
1992年第8期12-15,共4页
本文根据VLSI、LSI数字电路的功能真值表或功能表达式。用“G-F”二值公式生成功能测试码集。文中最后给出了算法的应用实例。
关键词
VLSI
功能测试码
集成电路
在线阅读
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职称材料
题名
VLSI电路功能测试码的生成
1
作者
盛运焕
李少青
机构
国防科大计算机研究所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
1992年第8期12-15,共4页
文摘
本文根据VLSI、LSI数字电路的功能真值表或功能表达式。用“G-F”二值公式生成功能测试码集。文中最后给出了算法的应用实例。
关键词
VLSI
功能测试码
集成电路
Keywords
VLSI Circuit, Function test, Test generation algorithm, 'G-F' 2-valued formula
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
发文年
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1
VLSI电路功能测试码的生成
盛运焕
李少青
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
1992
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