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复杂设备BIT系统几种典型虚警的数学分析
被引量：
2
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作者
徐永成
温熙森
易晓山
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
2001年第12期8-11,共4页
机内测试 (Built-inTest,BIT)技术是改善系统或设备测试性和诊断能力的重要途径 ,它能够提高设备内部检测和隔离故障的能力、简化设备维修、降低全寿命周期费用 ,但是较高的虚警率一直是阻碍BIT广泛应用的一个重要原因。在对复杂设备BI...
机内测试 (Built-inTest,BIT)技术是改善系统或设备测试性和诊断能力的重要途径 ,它能够提高设备内部检测和隔离故障的能力、简化设备维修、降低全寿命周期费用 ,但是较高的虚警率一直是阻碍BIT广泛应用的一个重要原因。在对复杂设备BIT系统建立数学模型的基础上 ,分析了BIT系统几种常见虚警的机理模式 ,并以此提出了相应的技术解决路线 。
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关键词
故障诊断
数学模型
虚警概率
机内测试系统
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题名
复杂设备BIT系统几种典型虚警的数学分析
被引量：
2
1
作者
徐永成
温熙森
易晓山
机构
国防科大机械电子工程与仪器系
出处
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
2001年第12期8-11,共4页
基金
国家部委项目基金资助课题
文摘
机内测试 (Built-inTest,BIT)技术是改善系统或设备测试性和诊断能力的重要途径 ,它能够提高设备内部检测和隔离故障的能力、简化设备维修、降低全寿命周期费用 ,但是较高的虚警率一直是阻碍BIT广泛应用的一个重要原因。在对复杂设备BIT系统建立数学模型的基础上 ,分析了BIT系统几种常见虚警的机理模式 ,并以此提出了相应的技术解决路线 。
关键词
故障诊断
数学模型
虚警概率
机内测试系统
Keywords
Measuring technique
Fault diagnosis
Mathematical model
False alarm prability
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
复杂设备BIT系统几种典型虚警的数学分析
徐永成
温熙森
易晓山
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
2001
2
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