-
题名针对密码芯片电磁辐射泄漏的特征选择方法
被引量：2
- 1
-
-
作者
文毅
郭澍
孔昊
郭剑虹
-
机构
国家应用软件产品质量检验检测中心(北京软件产品质量检测检验中心)
-
出处
《信息安全研究》
2022年第12期1214-1222,共9页
-
基金
国家重点研发计划项目(2017YFF0209602)。
-
文摘
针对密码芯片运行过程中的电磁辐射泄漏,提出基于汉明重量模型的特征选择方法,该方法利用电磁辐射能量依赖于被处理数据汉明重量这一事实.首先,对密码算法中间值的不同汉明重量构建不同的类别,每个类别使用各自的选择明文执行重复加密运算,同时采集芯片辐射的电磁信号;然后,计算每个类别内电磁信号的均值以及任意2个类别间电磁信号的均值之差,得到一个差值矩阵;最后,定义1组变量对差值矩阵进行约束,将满足约束条件的点选为特征点.实验结果表明:基于汉明重量模型不仅能够实现特征点的有效选择,与相关系数特征选择方法相比,该方法还能显著减少模板构建所需的电磁泄漏迹数量.
-
关键词
模板攻击
侧信道攻击
特征选择
汉明重量模型
相关系数
欧氏距离
SM4分组密码
-
Keywords
template attack
side channel attack
feature selection
Hamming weight model
correlation coefficient
euclidean distance
SM4 block cipher
-
分类号
TP309.1
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
-
