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LCD Mura缺陷的B样条曲面拟合背景抑制
被引量：
13
1
作者
李坤
李辉
+2 位作者
刘云杰
梁平
卢小鹏
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第2期33-39,共7页
针对机器视觉检测TFT-LCD Mura缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题,提出一种基于B样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下,采用双三次B样条曲面拟合算法拟合出背景,并添加光顺项调整拟合精...
针对机器视觉检测TFT-LCD Mura缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题,提出一种基于B样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下,采用双三次B样条曲面拟合算法拟合出背景,并添加光顺项调整拟合精度,用原始图像减去拟合背景,从而消除亮度不均匀背景对缺陷分割造成的影响。为提高算法速度,对原始图像进行分块拟合,并将双三次B样条函数分解为一元函数求解,减小了计算量,同时避免了对原函数求解时容易出现的病态解问题。实验结果表明,该算法准确、高效。
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关键词
Mura缺陷
亮度不均匀
B样条
曲面拟合
背景抑制
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职称材料
基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法
被引量：
10
2
作者
卢小鹏
李辉
+2 位作者
刘云杰
梁平
李坤
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第1期146-151,共6页
针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓...
针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓曲线内、外部区域之间的亮度差项,提高了分割准确性。在数值实现上,采用无条件稳定的半隐差分格式,适当加大步长,加速曲线演化过程,相比于有限差分格式和AOS格式,分割速度明显提高。实验结果表明,本文提出的算法能够准确地分割背景不均匀的Mura缺陷图像,并且分割速度快。
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关键词
Chan—Vese模型
TFT-LCD
Mura缺陷
水平集
半隐差分格式
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职称材料
题名
LCD Mura缺陷的B样条曲面拟合背景抑制
被引量：
13
1
作者
李坤
李辉
刘云杰
梁平
卢小鹏
机构
电子科技大学航空航天学院
四川出入境检验检疫局机电处
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第2期33-39,共7页
基金
国家质检总局科技计划项目(2012IK100)
文摘
针对机器视觉检测TFT-LCD Mura缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题,提出一种基于B样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下,采用双三次B样条曲面拟合算法拟合出背景,并添加光顺项调整拟合精度,用原始图像减去拟合背景,从而消除亮度不均匀背景对缺陷分割造成的影响。为提高算法速度,对原始图像进行分块拟合,并将双三次B样条函数分解为一元函数求解,减小了计算量,同时避免了对原函数求解时容易出现的病态解问题。实验结果表明,该算法准确、高效。
关键词
Mura缺陷
亮度不均匀
B样条
曲面拟合
背景抑制
Keywords
Mura defect
uneven brightness
B-spline
surface fitting
background suppression
分类号
TP183 [自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]
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职称材料
题名
基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法
被引量：
10
2
作者
卢小鹏
李辉
刘云杰
梁平
李坤
机构
电子科技大学航空航天学院
四川出入境检验检疫局机电处
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第1期146-151,共6页
基金
国家质检总局科技计划项目(No.2012IK100)
文摘
针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓曲线内、外部区域之间的亮度差项,提高了分割准确性。在数值实现上,采用无条件稳定的半隐差分格式,适当加大步长,加速曲线演化过程,相比于有限差分格式和AOS格式,分割速度明显提高。实验结果表明,本文提出的算法能够准确地分割背景不均匀的Mura缺陷图像,并且分割速度快。
关键词
Chan—Vese模型
TFT-LCD
Mura缺陷
水平集
半隐差分格式
Keywords
Chan-Vese model
TFT-LCD Mura defect
level set
semi-implicit scheme
分类号
TN141.9 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
LCD Mura缺陷的B样条曲面拟合背景抑制
李坤
李辉
刘云杰
梁平
卢小鹏
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2014
13
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职称材料
2
基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法
卢小鹏
李辉
刘云杰
梁平
李坤
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2014
10
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职称材料
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