期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
不同工艺制备的ta-C和ta-C:N薄膜表面粗糙度研究(英文) 被引量:4
1
作者 张化宇 刘良学 +3 位作者 马洪涛 刘凡新 刘会良 王东 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2006年第5期673-675,共3页
采用FCVA工艺成功制备了ta-C薄膜,采用ECR-CVD工艺对部分ta-C薄膜试样进行氮等离子体处理,制备了ta-C:N薄膜。对两种薄膜的表面粗糙度与元素含量、沉积工艺参数之间的关系进行了研究。通过AFM对薄膜表面粗糙度进行了分析,通过XPS对薄膜... 采用FCVA工艺成功制备了ta-C薄膜,采用ECR-CVD工艺对部分ta-C薄膜试样进行氮等离子体处理,制备了ta-C:N薄膜。对两种薄膜的表面粗糙度与元素含量、沉积工艺参数之间的关系进行了研究。通过AFM对薄膜表面粗糙度进行了分析,通过XPS对薄膜的元素含量进行了分析。试验结果显示,沉积条件对薄膜厚度和元素含量具有明显的影响。对ta-C薄膜进行氮等离子体处理后,其表面粗糙度有一个明显的起伏变化。研究结果表明,氮能改变DLC薄膜表面的粗糙度。元素含量也随着薄膜的厚度变化而变化。 展开更多
关键词 ta—C:N AFM XPS 粗糙度
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部