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吉时利发布新的用于65nm及更小尺寸技术的半导体可靠性测试系统: 1; 《电子测量技术》 2005年第5期97-97,共1页; 吉时利仪器公司发布新的S510半导体可靠性测试系统。是高通道测量的完整方案．用于先进65nm节点及更小尺寸的ULSI CMOS过程工艺的可靠性测试和寿命。它提供了晶圆级可靠性（WLR）测试的高吞吐速率和高度的灵活性。减少评估可靠性和完成... 展开更多; 关键词吉时利仪器公司可靠性测试测试系统半导体小尺寸技术 ULSI CMOS 过程开发; 在线阅读下载PDF 职称材料

吉时利推出新脉冲式半导体器件特性测量方案: 2; 《电子测量技术》 2005年第4期89-89,共1页; Model 4200-SCS PIV子系统适合解决高介电High-k介质的集成电路和65nm及更小尺寸工艺的新器件热特性的问题的工具。; 关键词测量方案器件特性半导体脉冲式吉时利 4200-SCS MODEL 集成电路热特性; 在线阅读下载PDF 职称材料

吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7．1升级版扩展了C—V、I—V和脉冲式I—V特征分析功能: 3; 《电子测量技术》 2008年第8期196-196,共1页; （美国俄亥俄州克里夫兰，200B年7月29日讯）美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前针对4200～SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEi支持更高功率半导体器件... 展开更多; 关键词 4200-SCS 功率半导体器件特征和吉时利系统升级版脉冲式电容-电压; 在线阅读下载PDF 职称材料

吉时利推出扩展3700系列开关／万用表新型插卡: 4; 《电子测量技术》 2008年第8期196-196,共1页; （美国俄亥俄州克里夫兰，2008年7月22日讯）美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前发布了两款新型插卡：3724型双1X30固态FET继电器多路转换卡和3750型多功能I/O卡，从而扩展了其3700系列开关／万用表和插卡产品系列... 展开更多; 关键词万用表吉时利插卡开关测试复杂性俄亥俄州仪器公司 I/O卡; 在线阅读下载PDF 职称材料

吉时利发布新版数据采集、测量与控制手册: 5; 《电子测量技术》 2007年第3期191-191,共1页; 美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前发布新版《掌握最新的数据采集、测量与控制开发手段》一书。该手册厚达220多页，是关于高性能测试与测量技术的实用指南，读者能从http：／／www．ggcomm．com／Keithley／MAR07... 展开更多; 关键词测量技术数据采集吉时利手册控制仪器公司实用指南性能测试; 在线阅读下载PDF 职称材料

吉时利(Keithley)发布新半导体测试技术手册: 6; 《电子测量技术》 2005年第4期73-73,共1页; 手册集合吉时利半导体参数测试、器件特性分析专家经验和用户经验。它涉及到新兴的多种技术和工艺。; 关键词半导体测试技术手册吉时利参数测试用户经验专家经验特性分析器件; 在线阅读下载PDF 职称材料

参数测试问题?请在使用检修仪器之前检查探针接触电阻: 7; 作者 Otto P.Weeden 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第11期39-41,43,共4页; 关键词参数测试仪接触电阻接触电阻平整度平衡触点压力超量驱动触点压力; 在线阅读下载PDF 职称材料

新的晶圆级1/f噪声测量法: 8; 作者黄丽华《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第4期315-317,共3页; 提出了一种新的可靠的晶圆级1/f噪声测量方法和架构。测试架构采用了吉时利的一系列仪器,包括4200-SCS、428和一个低通滤波器,并且采用了吉时利的自动特征分析套件(ACS)软件来控制测量仪器的操作,采集/分析测得的数据。由于所用的低通... 展开更多; 关键词 1/f噪声低通滤波器电流放大器自动化晶圆级; 在线阅读下载PDF 职称材料

Keithley四月全国8城，传播最新通用测量技术: 9; 《电子测量技术》 2007年第3期192-192,共1页; 美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI）日前宣布，2007年度4月举办全国8城市技术巡回研讨会，首场于4月3日上海开锣，为期18天，巡回苏州、深圳、．成都、西安、沈阳、天津，惠及华北、东北、华东、华南、西南和西北的技术... 展开更多; 关键词测量技术吉时利公司通用传播仪器公司; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名吉时利发布新的用于65nm及更小尺寸技术的半导体可靠性测试系统: 1; 机构美国吉时利仪器公司北京办事处; 出处《电子测量技术》 2005年第5期97-97,共1页; 文摘吉时利仪器公司发布新的S510半导体可靠性测试系统。是高通道测量的完整方案．用于先进65nm节点及更小尺寸的ULSI CMOS过程工艺的可靠性测试和寿命。它提供了晶圆级可靠性（WLR）测试的高吞吐速率和高度的灵活性。减少评估可靠性和完成寿命建模的时间．从而减少项目的技术研发和工艺过程开发的耗时，; 关键词吉时利仪器公司可靠性测试测试系统半导体小尺寸技术 ULSI CMOS 过程开发; 分类号 TN312.8 [电子电信—物理电子学] TP311.5 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名吉时利推出新脉冲式半导体器件特性测量方案: 2; 机构美国吉时利仪器公司北京办事处; 出处《电子测量技术》 2005年第4期89-89,共1页; 文摘 Model 4200-SCS PIV子系统适合解决高介电High-k介质的集成电路和65nm及更小尺寸工艺的新器件热特性的问题的工具。; 关键词测量方案器件特性半导体脉冲式吉时利 4200-SCS MODEL 集成电路热特性; 分类号 TN386 [电子电信—物理电子学] TD175.5 [矿业工程—矿山地质测量]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7．1升级版扩展了C—V、I—V和脉冲式I—V特征分析功能: 3; 机构吉时利仪器公司; 出处《电子测量技术》 2008年第8期196-196,共1页; 文摘（美国俄亥俄州克里夫兰，200B年7月29日讯）美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前针对4200～SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEi支持更高功率半导体器件的测试。这样。4200—SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析，大大降低了一些复杂测量的难度，并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。KTEI V7．1的此次升级融合了多种新特征和新功能．扩宽了4200-CVU（电容-电压单元）的功能，包括对高达200VDC（即400V差分电压）和300mA更高功率半导体器件的特征分析提供了软件支持。; 关键词 4200-SCS 功率半导体器件特征和吉时利系统升级版脉冲式电容-电压; 分类号 TN307 [电子电信—物理电子学] TN303 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名吉时利推出扩展3700系列开关／万用表新型插卡: 4; 机构吉时利仪器公司; 出处《电子测量技术》 2008年第8期196-196,共1页; 文摘（美国俄亥俄州克里夫兰，2008年7月22日讯）美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前发布了两款新型插卡：3724型双1X30固态FET继电器多路转换卡和3750型多功能I/O卡，从而扩展了其3700系列开关／万用表和插卡产品系列。新推出的这些插卡帮助测试工程师进一步扩宽了对各种开关配置结构的支持，以满足测试复杂性日益增加的需求。要想进一步了解有关3724和3750插卡的洋情，; 关键词万用表吉时利插卡开关测试复杂性俄亥俄州仪器公司 I/O卡; 分类号 TP334.7 [自动化与计算机技术—计算机系统结构] TM938.12 [电气工程—电力电子与电力传动]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名吉时利发布新版数据采集、测量与控制手册: 5; 机构美国吉时利仪器公司; 出处《电子测量技术》 2007年第3期191-191,共1页; 文摘美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前发布新版《掌握最新的数据采集、测量与控制开发手段》一书。该手册厚达220多页，是关于高性能测试与测量技术的实用指南，读者能从http：／／www．ggcomm．com／Keithley／MAR07DAQ_NR．html上免费下载。; 关键词测量技术数据采集吉时利手册控制仪器公司实用指南性能测试; 分类号 TN305 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名吉时利(Keithley)发布新半导体测试技术手册: 6; 机构美国吉时利仪器公司北京办事处; 出处《电子测量技术》 2005年第4期73-73,共1页; 文摘手册集合吉时利半导体参数测试、器件特性分析专家经验和用户经验。它涉及到新兴的多种技术和工艺。; 关键词半导体测试技术手册吉时利参数测试用户经验专家经验特性分析器件; 分类号 TN307 [电子电信—物理电子学] TP391 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名参数测试问题?请在使用检修仪器之前检查探针接触电阻: 7; 作者 Otto P.Weeden; 机构吉时利仪器公司; 出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第11期39-41,43,共4页; 关键词参数测试仪接触电阻接触电阻平整度平衡触点压力超量驱动触点压力; 分类号 TM933 [电气工程—电力电子与电力传动]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名新的晶圆级1/f噪声测量法: 8; 作者黄丽华; 机构北京大学微电子学院吉时利仪器公司; 出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第4期315-317,共3页; 文摘提出了一种新的可靠的晶圆级1/f噪声测量方法和架构。测试架构采用了吉时利的一系列仪器,包括4200-SCS、428和一个低通滤波器,并且采用了吉时利的自动特征分析套件(ACS)软件来控制测量仪器的操作,采集/分析测得的数据。由于所用的低通滤波器能够消除所有高于0.5Hz的噪声,因此大大提高了1/f噪声的测量精度。利用这一测量架构能够在各种偏压条件下评测具有不同尺寸的nMOS和pMOS器件的1/f噪声特征。; 关键词 1/f噪声低通滤波器电流放大器自动化晶圆级; Keywords 1/f noise low pass filter current amplifier automatic wafer level; 分类号 TN304.07 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名Keithley四月全国8城，传播最新通用测量技术: 9; 机构美国吉时利仪器公司; 出处《电子测量技术》 2007年第3期192-192,共1页; 文摘美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI）日前宣布，2007年度4月举办全国8城市技术巡回研讨会，首场于4月3日上海开锣，为期18天，巡回苏州、深圳、．成都、西安、沈阳、天津，惠及华北、东北、华东、华南、西南和西北的技术研发者，并将于4月20日北京为本次巡回落下帷幕。吉时利公司同时宣布，报名参会即时启动。; 关键词测量技术吉时利公司通用传播仪器公司; 分类号 TN011 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	操作
1	吉时利发布新的用于65nm及更小尺寸技术的半导体可靠性测试系统		《电子测量技术》	2005	在线阅读下载PDF 职称材料
2	吉时利推出新脉冲式半导体器件特性测量方案		《电子测量技术》	2005	在线阅读下载PDF 职称材料
3	吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7．1升级版扩展了C—V、I—V和脉冲式I—V特征分析功能		《电子测量技术》	2008	在线阅读下载PDF 职称材料
4	吉时利推出扩展3700系列开关／万用表新型插卡		《电子测量技术》	2008	在线阅读下载PDF 职称材料
5	吉时利发布新版数据采集、测量与控制手册		《电子测量技术》	2007	在线阅读下载PDF 职称材料
6	吉时利(Keithley)发布新半导体测试技术手册		《电子测量技术》	2005	在线阅读下载PDF 职称材料
7	参数测试问题?请在使用检修仪器之前检查探针接触电阻	Otto P.Weeden	《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心	2003	在线阅读下载PDF 职称材料
8	新的晶圆级1/f噪声测量法	黄丽华	《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心	2009	在线阅读下载PDF 职称材料
9	Keithley四月全国8城，传播最新通用测量技术		《电子测量技术》	2007	在线阅读下载PDF 职称材料