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WC粉末X射线衍射的粒度效应
被引量：
5
1
作者
陈士仁
吴冲浒
张守全
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第3期442-447,共6页
用X射线衍射研究粒度 10 .86～ 0 .12 4μm系列WC粉末的粒度效应。随粒度变小 ,衍射线线形发生明显变化 ,从敏锐到极其漫散。亚微米级粒度的WC粉末谱线半高宽随粒度变细显著变化 ,半高宽是度量粒度效应的主要指标 ,而对于微米级粒度的...
用X射线衍射研究粒度 10 .86～ 0 .12 4μm系列WC粉末的粒度效应。随粒度变小 ,衍射线线形发生明显变化 ,从敏锐到极其漫散。亚微米级粒度的WC粉末谱线半高宽随粒度变细显著变化 ,半高宽是度量粒度效应的主要指标 ,而对于微米级粒度的粒度效应则可应用谱线背底宽度来衡量。极细和超细粒度WC粉末衍射谱线的2θ位置明显偏离平衡位置 ,这与临近纳米粒度有关。WC粉末衍射强度也随粒度产生明显变化 ,衍射强度随粒度变细的变化规律与半高宽的规律呈反转对应关系。应用WC粉末X射线衍射的粒度效应 ,尤其是谱线宽化的规律作为评定亚微米级WC粉末粒度尤其是极细和超细粒度 ,是有应用前景的。
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关键词
粒度效应
X射线衍射
谱线宽化
碳化钨粉末
硬质合金
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职称材料
题名
WC粉末X射线衍射的粒度效应
被引量：
5
1
作者
陈士仁
吴冲浒
张守全
机构
厦门金鹭特种合金有限公司技术研究与发展中心
出处
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第3期442-447,共6页
文摘
用X射线衍射研究粒度 10 .86～ 0 .12 4μm系列WC粉末的粒度效应。随粒度变小 ,衍射线线形发生明显变化 ,从敏锐到极其漫散。亚微米级粒度的WC粉末谱线半高宽随粒度变细显著变化 ,半高宽是度量粒度效应的主要指标 ,而对于微米级粒度的粒度效应则可应用谱线背底宽度来衡量。极细和超细粒度WC粉末衍射谱线的2θ位置明显偏离平衡位置 ,这与临近纳米粒度有关。WC粉末衍射强度也随粒度产生明显变化 ,衍射强度随粒度变细的变化规律与半高宽的规律呈反转对应关系。应用WC粉末X射线衍射的粒度效应 ,尤其是谱线宽化的规律作为评定亚微米级WC粉末粒度尤其是极细和超细粒度 ,是有应用前景的。
关键词
粒度效应
X射线衍射
谱线宽化
碳化钨粉末
硬质合金
Keywords
WC powder
particle size
effect of particle size
X-ray diffraction
line broadening
分类号
TF123.31 [冶金工程—粉末冶金]
TF122.1 [冶金工程—粉末冶金]
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职称材料
题名
作者
出处
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被引量
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1
WC粉末X射线衍射的粒度效应
陈士仁
吴冲浒
张守全
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
5
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