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非抽样小波变换耦合Zelnick矩的图像伪造检测算法 被引量:4
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作者 冯莉 龚子华 文远保 《计算机工程与设计》 北大核心 2016年第6期1588-1592,共5页
为解决目前复制粘贴伪造检测算法鲁棒性较差、检测精度低等不足,提出非抽样小波变换(UWT)耦合泽尼克矩(Zernike)的复制移动图像伪造检测算法。利用非抽样小波变换将输入图像分解为近似系数LL和详细系数HH,得出块与块间的相似性和差异度... 为解决目前复制粘贴伪造检测算法鲁棒性较差、检测精度低等不足,提出非抽样小波变换(UWT)耦合泽尼克矩(Zernike)的复制移动图像伪造检测算法。利用非抽样小波变换将输入图像分解为近似系数LL和详细系数HH,得出块与块间的相似性和差异度;划分重叠块,计算图像子块间距;根据LL相似性和HH差异性排序分类;引入泽尼克矩,构建距离矩阵,进行图像特征匹配,对图像进行伪造检测。实验结果表明,该算法具有很好的平移不变性和幅值旋转不变性,抗后处理性能好,精测精度高,漏检率和误检率低。 展开更多
关键词 非抽样小波变换 泽尼克矩 复制粘贴 图像伪造检测 鲁棒性
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基于序贯相似性与光源自动调节的芯片表面缺陷检测算法 被引量:5
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作者 冯莉 龚子华 《现代电子技术》 北大核心 2017年第5期58-62,共5页
为了解决当前缺陷检查算法在保护罩反光环境下易导致采集芯片连接器图像光照不均,使其缺陷检测精度较低,无法精确定位出浅插与破损的不足,设计了基于序贯相似性检测匹配与光源自动调节的芯片连接器表面缺陷检测识别算法。首先,基于序贯... 为了解决当前缺陷检查算法在保护罩反光环境下易导致采集芯片连接器图像光照不均,使其缺陷检测精度较低,无法精确定位出浅插与破损的不足,设计了基于序贯相似性检测匹配与光源自动调节的芯片连接器表面缺陷检测识别算法。首先,基于序贯相似性检测匹配,定位出连接器位置,提取出连接器不良常发区域;然后设计了光源自动调节机制,视觉软件通过光源数字控制器SDK与网线触发光源关闭或调暗,消除保护罩反光对图像质量的影响;最后采用线检测,统计缺陷区域二值图特征,完成缺陷检查。实验数据显示,与当前缺陷检查技术相比,在面对保护罩反光严重环境下的芯片连接器缺陷检查时,该算法具有更高的检查精度。 展开更多
关键词 缺陷检测 图像处理 光源自动调节 序贯相似性检测 线检测
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