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题名新生儿缺氧缺血性脑病CT随访再认识
被引量：2
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作者
王礼同
汤晓明
周丹
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机构
南京铁道医学院附属扬州医院(扬州市第一人民医院)ct室
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出处
《放射学实践》
2000年第2期111-113,共3页
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文摘
目的 :进一步探讨新生儿缺氧缺血性脑病 (HIE)的发展转归、CT分度与预后的关系 ,并评价CT在HIE随访中的应用价值。方法 :选择有围产期窒息史 ,头颅CT诊断为不同程度的HIE新生儿 62例。根据脑水肿范围、程度 ,将HIE分为轻、中、重 3度 ,分别于 3个月、6个月、1岁、2岁和 4岁内进行头颅CT复查。结果 :HIE所致脑低密度灶在生后3个月内吸收消失 ;3～ 6个月时可引起外部性脑积水 (EH) ,1岁以后 ,EH的表现消失 ;3个月及以后可引起脑室周围白质软化症 (PVL) ,其中轻、中、重度HIE的PVL发生率为 11.6%、64 .3 %和 80 % ;重度PVL的发生率为 2 0 %、3 3 .3 %和75 % ;重度HIE在 2个月内可引起脑软化和脑萎缩 ( 80 % )。结论 :HIE的CT分度与预后密切相关 ;轻度者 ,预后良好 ;中 重度者 ,预后较差。PVL。
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关键词
缺氧缺血性脑病
新生儿
CT
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Keywords
Hypoxic ischemic encephalopathy Neonate Follow-up Tomography,X-ray Computed
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分类号
R816.92
[医药卫生—放射医学]
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