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基于LM算法改进BP神经网络的薄膜电阻高精度测量
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作者 张钰 王琰 +2 位作者 彭正凤 马俊杰 王静 《大学物理实验》 2025年第2期64-69,共6页
在半导体工艺中,电阻测量极其关键。传统四探针法在测量薄膜的电阻时,需对范德堡函数进行非线性拟合,不仅耗时较长,且精度较差。针对该现象提出了一种基于Levenberg-Marquardt(LM)算法的Back propagation neural network(BPNN)神经网络... 在半导体工艺中,电阻测量极其关键。传统四探针法在测量薄膜的电阻时,需对范德堡函数进行非线性拟合,不仅耗时较长,且精度较差。针对该现象提出了一种基于Levenberg-Marquardt(LM)算法的Back propagation neural network(BPNN)神经网络模型。LM算法结合了梯度下降法和牛顿法的优点,在迭代过程中快速接近全局最小值,且对于局部最小值的陷落情况优于纯梯度下降法,结合BP神经网络的反向传播误差来调整权重,从而实现复杂非线性函数的拟合。对含反双曲余弦的超越函数(范德堡函数)的局部参数进行非线性拟合,得到最大偏差为2.08×10^(-5),相对标准偏差为2.16×10^(-8)的神经网络拟合模型,对比规范化多项式拟合方法精度提升99.5%。此改进方法,可极大提高测量结果的稳定性与精确性,将模型运用于实验测量过程,有效改善了电阻率测试精度。 展开更多
关键词 BP神经网络 范德堡法 非线性函数拟合 电阻率测量 LM算法
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