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在非离子表面活性剂存在下结晶紫-硅钼杂多酸光度法测定痕量硅的研究 被引量：10
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作者 王镇棣 郑用熙 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS 1986年第9期775-779,共5页
本文研究了在非离子表面活性剂存在下结晶紫-硅钼杂多酸离于缔合物的分光光度性质,建立了灵敏度较高的水相测定痕量硅的分光光度法。硅量在0—3.0μg/25ml范围符合比耳定律,表观摩尔吸光系数为1.45×10^(5)。还讨论了离子缔合物的... 本文研究了在非离子表面活性剂存在下结晶紫-硅钼杂多酸离于缔合物的分光光度性质,建立了灵敏度较高的水相测定痕量硅的分光光度法。硅量在0—3.0μg/25ml范围符合比耳定律,表观摩尔吸光系数为1.45×10^(5)。还讨论了离子缔合物的结构特点。测定实际样品的结果令人满意。 展开更多
关键词 硅钼杂多酸 分光光度法 离子缔合物 结晶紫 非离子表面活性剂 表观摩尔吸光系数 痕量硅 比耳定律
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