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脑机接口中一种改进的模式识别方法 被引量:3
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作者 杨帮华 颜国正 +1 位作者 张永怀 付西光 《中国生物医学工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2006年第2期234-237,共4页
为提高脑机接口中脑电识别率,分析了特征提取方面时频特征组合法的缺点,探讨了一种改进的模式识别方法。该方法以样本类平均距离为判据,采用滑动窗优化技术,获取时域均值的最佳时间段和频域功率谱均值的最佳频率段。用经过优化的时域均... 为提高脑机接口中脑电识别率,分析了特征提取方面时频特征组合法的缺点,探讨了一种改进的模式识别方法。该方法以样本类平均距离为判据,采用滑动窗优化技术,获取时域均值的最佳时间段和频域功率谱均值的最佳频率段。用经过优化的时域均值和功率谱均值组合作为特征,形成特征向量。基于该特征向量,用神经网络对脑电信号进行分类。以识别正确率为指标,将改进方法与原方法进行对比,实验结果表明改进方法能够提高脑电识别率,具有应用价值。 展开更多
关键词 脑机接口 脑电 滑动窗 模式识别 神经网络
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H_2S电化学气体传感器的敏感特性评价 被引量:9
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作者 于文双 刘玲 +2 位作者 郭昀 衣志伟 钱永彪 《上海大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2015年第1期46-53,共8页
利用六西格玛(six sigma)统计工具对电化学硫化氢(H2S)气体传感器的气体敏感特性进行了研究,并运用Minitab软件对测试数据进行了系统分析.结果显示,所测电化学气体传感器对H2S气体响应良好,灵敏度平均值为0.82μA/10-6H2S.在H2S传感器... 利用六西格玛(six sigma)统计工具对电化学硫化氢(H2S)气体传感器的气体敏感特性进行了研究,并运用Minitab软件对测试数据进行了系统分析.结果显示,所测电化学气体传感器对H2S气体响应良好,灵敏度平均值为0.82μA/10-6H2S.在H2S传感器的量程范围(0~100×10-6)内,传感器的响应输出值与H2S气体体积分数呈现良好的线性关系,相关指数RSq=99.9%;传感器对气体的响应速度较快,响应时间T90<20 s.同时讨论了温度变化对H2S传感器灵敏度和响应输出值的影响. 展开更多
关键词 电化学传感器 H2S 敏感特性 统计工具
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高阻In掺杂CdZnTe晶体缺陷能级的研究 被引量:1
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作者 李刚 桑文斌 +4 位作者 闵嘉华 钱永彪 施朱斌 戴灵恩 赵岳 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期1049-1053,共5页
利用低压垂直布里奇曼法制备了不同In掺杂量的CdZnTe晶体样品,采用低温光致发光谱(PL)、深能级瞬态谱(DLTS)以及霍尔测试等手段研究了In掺杂CdZnTe晶体中的主要缺陷能级及其可能存在的补偿机制.PL测试结果表明,在In掺杂样品中,In原子占... 利用低压垂直布里奇曼法制备了不同In掺杂量的CdZnTe晶体样品,采用低温光致发光谱(PL)、深能级瞬态谱(DLTS)以及霍尔测试等手段研究了In掺杂CdZnTe晶体中的主要缺陷能级及其可能存在的补偿机制.PL测试结果表明,在In掺杂样品中,In原子占据了晶体中原有的Cd空位,形成了能级位于E_c-18meV的替代浅施主缺陷[In_(Cd)^+],同时[In_(Cd)^+]还与[V_(Cd)^(2-)]形成了能级位于E_v+163meV的复合缺陷[(In_(Cd)^+-V_(Cd)^(2-))^-].DLTS分析表明,掺In样品中存在导带以下约0.74eV的深能级电子陷阱能级,这个能级很可能是Te反位[Te_(Cd)]施主缺陷造成的.由此,In掺杂CdZnTe晶体的电学性质是In掺杂施主缺陷、Te反位深能级施主缺陷与本征受主缺陷Cd空位和残余受主杂质缺陷补偿的综合结果. 展开更多
关键词 碲锌镉 低温PL 深能级瞬态谱 缺陷能级
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