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题名基于蚂蚁路径的时序电路故障诊断算法
被引量：1
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作者
彭春萍
魏蛟龙
周曼丽
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机构
华中科技大学航天图像所电子与信息工程系
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出处
《数据采集与处理》
CSCD
2003年第4期373-376,共4页
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基金
航天科学基金资助项目
湖北省自然科学基金 ( 2 0 0 1 ABB1 0 4)资助项目
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文摘
提出了一种 VLSI时序电路自动测试型生成 ( Automatic test pattern generation,ATPG)的新算法。传统ATPG算法采用局部状态转换图或收集门级电路的知识以及提取电路规则来解决时序电路 ATPG的困难。本算法引入新的模型 ,着重解决了 ATPG中的计算冗余问题。在蚂蚁路径模型的基础上 ,前向搜索得到了重建 ,故障点的前向传输和回溯归结到了单一路径之上 ,而该路径上可能分布着许多待测的故障点 ,从而改善了以往时序电路 ATPG算法中搜索重复而导致的计算冗余问题 ,同时 ,最小测试向量的获取为数学定理所证明。最后在Benchmark电路上进行的与 ILP算法的比较试验表明 ,本算法具备同样的故障覆盖率 。
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关键词
VLSI
超大规模集成电路
时序电路
故障诊断算法
蚂蚁路径
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Keywords
ant path
automatic test pattern generation
sequential circuit
minimal test pattern
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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