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使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪测量镀金层厚度的方法研究
被引量：
1
1
作者
贺占平
周怡琳
章继高
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第6期537-538,共2页
关键词
扫描电子显微镜
X射线能谱仪
电子连接器
镀金层
厚度
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职称材料
失效连接器触点表面的SEM和EDS分析
被引量：
3
2
作者
冯萃峰
周怡琳
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第4期490-490,共1页
关键词
电子连接器
接触故障
失效分析
扫描电子显微镜
X射线能谱仪
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职称材料
题名
使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪测量镀金层厚度的方法研究
被引量：
1
1
作者
贺占平
周怡琳
章继高
机构
北京邮电大学自动化学院电接触科研室
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第6期537-538,共2页
关键词
扫描电子显微镜
X射线能谱仪
电子连接器
镀金层
厚度
分类号
TM503.5 [电气工程—电器]
TQ153.18 [化学工程—电化学工业]
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职称材料
题名
失效连接器触点表面的SEM和EDS分析
被引量：
3
2
作者
冯萃峰
周怡琳
机构
北京邮电大学自动化学院电接触科研室
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第4期490-490,共1页
基金
国家自然科学基金资助项目 (No .5 0 2 770 0 2 )
关键词
电子连接器
接触故障
失效分析
扫描电子显微镜
X射线能谱仪
分类号
TM503.5 [电气工程—电器]
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职称材料
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作者
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1
使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪测量镀金层厚度的方法研究
贺占平
周怡琳
章继高
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003
1
在线阅读
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职称材料
2
失效连接器触点表面的SEM和EDS分析
冯萃峰
周怡琳
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004
3
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