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表面修饰的硼酸盐润滑油添加剂的制备与分析
被引量：
13
1
作者
乔玉林
徐滨士
+4 位作者
李长青
马世宁
刘世参
刘维民
薛群基
《材料保护》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第6期11-13,共3页
采用超声波分散乳化、中性微乳液中反应，制备了表面修饰的硼酸盐润滑油添加剂，并用正交设计法优化了工艺参数，发现促进剂是制备工艺的关键因素。用扫描电子显微镜（SEM）和X－射线光电子能谱（XPS）分析了表面修饰的硼酸盐润滑油添...
采用超声波分散乳化、中性微乳液中反应，制备了表面修饰的硼酸盐润滑油添加剂，并用正交设计法优化了工艺参数，发现促进剂是制备工艺的关键因素。用扫描电子显微镜（SEM）和X－射线光电子能谱（XPS）分析了表面修饰的硼酸盐润滑油添加剂的形貌、化学组成及价态。添加剂颗粒大部分小于0．5μm，分子式为Na2OmB2O3nH2O，其中m＝3．0～3．5，n＝0．9～1．2。
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关键词
硼酸盐
润滑油
添加剂
XPS分析
SEM分析
全文增补中
题名
表面修饰的硼酸盐润滑油添加剂的制备与分析
被引量：
13
1
作者
乔玉林
徐滨士
李长青
马世宁
刘世参
刘维民
薛群基
机构
北京装甲兵工程学院全军装备维修表面工程研究中心
中国科
学院
兰州化学物理
研究
所固体润滑开放室
出处
《材料保护》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第6期11-13,共3页
基金
中国科学院兰州化学物理研究所固体润滑开放室资助
文摘
采用超声波分散乳化、中性微乳液中反应，制备了表面修饰的硼酸盐润滑油添加剂，并用正交设计法优化了工艺参数，发现促进剂是制备工艺的关键因素。用扫描电子显微镜（SEM）和X－射线光电子能谱（XPS）分析了表面修饰的硼酸盐润滑油添加剂的形貌、化学组成及价态。添加剂颗粒大部分小于0．5μm，分子式为Na2OmB2O3nH2O，其中m＝3．0～3．5，n＝0．9～1．2。
关键词
硼酸盐
润滑油
添加剂
XPS分析
SEM分析
分类号
TE624.82 [石油与天然气工程—油气加工工程]
全文增补中
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
表面修饰的硼酸盐润滑油添加剂的制备与分析
乔玉林
徐滨士
李长青
马世宁
刘世参
刘维民
薛群基
《材料保护》
CAS
CSCD
北大核心
1997
13
全文增补中
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参考文献
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