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基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究
被引量：
3
1
作者
牛峰
张博恒
+3 位作者
李贵衡
戴逸华
项石虎
李奎
《电机与控制学报》
EI
CSCD
北大核心
2024年第1期61-68,共8页
在电子电路服役过程中,元器件退化会引起电路输出特性变化,降低电子电路的可靠性。漏电信号调理电路作为一种电子电路,其可靠性直接决定了漏电断路器的可靠性。以漏电信号调理电路为研究对象,首先基于灵敏度分析方法确定影响电路性能退...
在电子电路服役过程中,元器件退化会引起电路输出特性变化,降低电子电路的可靠性。漏电信号调理电路作为一种电子电路,其可靠性直接决定了漏电断路器的可靠性。以漏电信号调理电路为研究对象,首先基于灵敏度分析方法确定影响电路性能退化的关键元器件,并对漏电信号调理电路进行了以温度为加速应力、动作电流值为退化特征量的恒定应力加速退化试验;其次根据不同温度应力下的试验数据建立基于Wiener过程的漏电信号调理电路性能退化模型,并利用极大似然估计法求取退化模型的未知参数,进而得出寿命预测的概率密度函数和可靠度函数;最后利用阿伦尼斯(Arrhenius)方程外推出正常应力下漏电信号调理电路的预测寿命。相关结论可为不同电子电路的寿命预测及可靠度分析提供支撑。
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关键词
加速退化试验
性能退化
退化建模
寿命预测
WIENER过程
电子电路
在线阅读
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职称材料
基于性能退化的智能脱扣器电源模块健康状态预测
被引量：
2
2
作者
李奎
赵伟焯
+2 位作者
戴逸华
王尧
王阳
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2023年第8期209-217,共9页
一般情况下电子产品在失效前性能已经发生退化,而传统的寿命预测方法没有利用退化信息。以智能脱扣器电源模块为研究对象,分析MOSFET开关周期和电路薄弱环节储能电容退化之间的关联关系,提出将MOSFET开关周期作为电源模块性能退化的特征...
一般情况下电子产品在失效前性能已经发生退化,而传统的寿命预测方法没有利用退化信息。以智能脱扣器电源模块为研究对象,分析MOSFET开关周期和电路薄弱环节储能电容退化之间的关联关系,提出将MOSFET开关周期作为电源模块性能退化的特征量,建立以MOSFET开关周期为特征参量的智能脱扣器电源模块性能退化模型;将电源模块划分为健康、注意和危险3种健康状态,确定健康状态转移图和转移时间的计算方法,建立其健康状态评估模型;对电源模块进行温度应力下的加速退化实验,验证性能退化模型和健康状态评估模型,并预测电源模块在40℃工作环境下由健康状态转移至注意状态的平均转移时间为3906天,转移至危险状态的平均转移时间为9296天。
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关键词
电源模块
性能退化
加速实验
WIENER过程
健康状态预测
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职称材料
题名
基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究
被引量：
3
1
作者
牛峰
张博恒
李贵衡
戴逸华
项石虎
李奎
机构
河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室
河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室
常熟开关制造
有限公司
北京蓝普锋科技有限公司
出处
《电机与控制学报》
EI
CSCD
北大核心
2024年第1期61-68,共8页
基金
国家自然科学基金(52322702,52077054)。
文摘
在电子电路服役过程中,元器件退化会引起电路输出特性变化,降低电子电路的可靠性。漏电信号调理电路作为一种电子电路,其可靠性直接决定了漏电断路器的可靠性。以漏电信号调理电路为研究对象,首先基于灵敏度分析方法确定影响电路性能退化的关键元器件,并对漏电信号调理电路进行了以温度为加速应力、动作电流值为退化特征量的恒定应力加速退化试验;其次根据不同温度应力下的试验数据建立基于Wiener过程的漏电信号调理电路性能退化模型,并利用极大似然估计法求取退化模型的未知参数,进而得出寿命预测的概率密度函数和可靠度函数;最后利用阿伦尼斯(Arrhenius)方程外推出正常应力下漏电信号调理电路的预测寿命。相关结论可为不同电子电路的寿命预测及可靠度分析提供支撑。
关键词
加速退化试验
性能退化
退化建模
寿命预测
WIENER过程
电子电路
Keywords
accelerated degradation test
performance degradation
degradation modeling
life prediction
Wiener process
electronic circuit
分类号
TM344.6 [电气工程—电机]
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职称材料
题名
基于性能退化的智能脱扣器电源模块健康状态预测
被引量：
2
2
作者
李奎
赵伟焯
戴逸华
王尧
王阳
机构
河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室
河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室
北京蓝普锋科技有限公司
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2023年第8期209-217,共9页
基金
国家自然科学基金(51937004,51977059)项目资助
文摘
一般情况下电子产品在失效前性能已经发生退化,而传统的寿命预测方法没有利用退化信息。以智能脱扣器电源模块为研究对象,分析MOSFET开关周期和电路薄弱环节储能电容退化之间的关联关系,提出将MOSFET开关周期作为电源模块性能退化的特征量,建立以MOSFET开关周期为特征参量的智能脱扣器电源模块性能退化模型;将电源模块划分为健康、注意和危险3种健康状态,确定健康状态转移图和转移时间的计算方法,建立其健康状态评估模型;对电源模块进行温度应力下的加速退化实验,验证性能退化模型和健康状态评估模型,并预测电源模块在40℃工作环境下由健康状态转移至注意状态的平均转移时间为3906天,转移至危险状态的平均转移时间为9296天。
关键词
电源模块
性能退化
加速实验
WIENER过程
健康状态预测
Keywords
power supply module
performance degradation
accelerated test,Wiener process
health state prediction
分类号
TM561 [电气工程—电器]
TH89 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究
牛峰
张博恒
李贵衡
戴逸华
项石虎
李奎
《电机与控制学报》
EI
CSCD
北大核心
2024
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
基于性能退化的智能脱扣器电源模块健康状态预测
李奎
赵伟焯
戴逸华
王尧
王阳
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2023
2
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职称材料
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