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数控系统可靠性测试试验数据的周期识别 被引量:1
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作者 高连生 高山峰 《制造技术与机床》 北大核心 2014年第11期155-157,161,共4页
针对无替换定时截尾的数控系统可靠性测试的故障分析的需要,对数控系统可靠性测试的试验运行数据进行了理论分析与研究,通过将离散的测试信号连续化、去噪、提取特征等信号处理技术实现了对大量试验数据的周期识别,为进一步分析数控系... 针对无替换定时截尾的数控系统可靠性测试的故障分析的需要,对数控系统可靠性测试的试验运行数据进行了理论分析与研究,通过将离散的测试信号连续化、去噪、提取特征等信号处理技术实现了对大量试验数据的周期识别,为进一步分析数控系统的运行故障情况奠定了基础。 展开更多
关键词 数控系统 可靠性测试 试验数据 周期识别
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