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液晶屏显示驱动芯片测试技术研究
被引量:
2
1
作者
濮德龙
刘春来
张东
《数字技术与应用》
2016年第4期59-61,共3页
液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用...
液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用于该类芯片的测试,目前该技术主要掌握在国外企业手中,因此在驱动芯片设计与制造的产业链中,测试技术已成为制约发展的一个瓶颈。针对此背景,本文提出一套高效、实用测试方法,采用多通道与高压模拟通道同步测试技术、色阶测试技术、特殊封装的适应性技术和ATE等技术,可以实现减少测试费用、提高驱动芯片测试吞吐量的同时也能保证客户对芯片质量的严格要求。
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关键词
液晶显示驱动芯片
芯片测试
多通道同步测试
色阶测试
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职称材料
语音电路测试与开发技术
被引量:
1
2
作者
刘清君
李素君
《电子产品世界》
1999年第8期62-63,共2页
关键词
语音电路
集成电路
芯片
测试
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职称材料
双音多频电路的测试技术
被引量:
1
3
作者
刘清君
濮德龙
《电子产品世界》
1999年第7期56-57,共2页
关键词
双音多频电路
测试技术
电子电路
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职称材料
空间用元器件热真空试验评价方法研究
被引量:
2
4
作者
阳辉
白桦
+2 位作者
刘燕芳
哈文慧
张东
《电子与封装》
2011年第6期31-35,共5页
空间用元器件热真空试验是空间环境模拟试验中非常重要的一项试验,文章通过对空间用元器件热真空环境应力的分析,给出了不同轨道的温度范围以及不同真空度下空间用元器件的物理效应;对空间用元器件热真空试验评价方法进行了研究和探讨,...
空间用元器件热真空试验是空间环境模拟试验中非常重要的一项试验,文章通过对空间用元器件热真空环境应力的分析,给出了不同轨道的温度范围以及不同真空度下空间用元器件的物理效应;对空间用元器件热真空试验评价方法进行了研究和探讨,在参照组件、分系统、整星热真空试验方法的基础上,提出了器件级热真空试验程序。介绍了已开展的DC/DC混合集成电路和双向收发器单片集成电路的热真空试验情况和试验结果。试验结果表明,通过热真空试验,可以对空间用元器件热真空环境下的性能和可靠性进行试验评价,为航天用户单位合理选用空间用元器件提供科学依据。
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关键词
空间
元器件
热真空试验
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职称材料
我国集成电路测试产业发展的探讨
被引量:
2
5
作者
张东
《中国集成电路》
2002年第3期86-90,共5页
众所周知,集成电路产业是庞大的产业群体。集成电路产业群体中的每项产业都有着特殊的地位和作用,缺少其中任何一项产业。
关键词
集成电路测试
模拟测试系统
集成电路检测
集成电路产业
测试软件
产业发展
产业政策
测试方法
数字集成电路
封装业
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职称材料
双极型运算放大器ELDRS效应试验研究
6
作者
阳辉
刘燕芳
+2 位作者
陈宇
白桦
张东
《辐射研究与辐射工艺学报》
CAS
CSCD
2011年第3期183-188,共6页
针对空间辐射环境下应用的双极型器件抗辐射能力与地面高剂量率辐照模拟试验所获得器件的抗辐照水平存在差异,在地面利用^(60)Co辐射源开展了双极型运算放大器的总剂量辐照试验研究,分析了辐照剂量率、辐照偏置和室温退火3种试验组合条...
针对空间辐射环境下应用的双极型器件抗辐射能力与地面高剂量率辐照模拟试验所获得器件的抗辐照水平存在差异,在地面利用^(60)Co辐射源开展了双极型运算放大器的总剂量辐照试验研究,分析了辐照剂量率、辐照偏置和室温退火3种试验组合条件下样品的总剂量响应。结果表明,在300Gy的辐照水平下,低剂量率辐照条件下器件参数的退化损伤是高剂量率条件下的2.46-816.67倍,受试样品具有明显的增强型低剂量率敏感度效应(ELDRS),辐照敏感参数为输入偏置电流、输入失调电流、输入失调电压和开环增益,退化损伤结果与辐照剂量率、辐照偏置有关,高剂量率辐照后受试样品的室温退火有较小的时变效应,低剂量率辐照后受试样品的室温退火有明显的时变效应。
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关键词
运算放大器
ELDRS
辐照剂量率
辐照偏置
室温退火
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职称材料
集成电路测试业发展模式的探索与实践
被引量:
1
7
作者
张东
《集成电路应用》
2002年第1期40-41,45,共3页
1、概述众所周知,集成电路产业的业务链主要包括设计、芯片生产、封装和测试四个部份,其中集成电路测试业务贯穿在集成电路设计、芯片生产、封装以及集成电路应用的全过程,完成集成电路设计的验证测试、制定集成电路产品技术规范的相关...
1、概述众所周知,集成电路产业的业务链主要包括设计、芯片生产、封装和测试四个部份,其中集成电路测试业务贯穿在集成电路设计、芯片生产、封装以及集成电路应用的全过程,完成集成电路设计的验证测试、制定集成电路产品技术规范的相关测试,大批量芯片中测和成品测试,以及用户的入库检测等一系列检测任务,确保集成电路产品的高质量。为完成集成电路产业赋予集成电路测试业的检测任务,集成电路测试业必须具备下列三个方面的能力:
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关键词
集成电路测试业
发展模式
半导体产业
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职称材料
新型图形发生器的集成电路测试系统
8
作者
张东
刘天增
张生文
《集成电路应用》
2003年第8期54-55,共2页
集成电路产业是国家综合竞争力的重要标志,也是维护国家经济和国防安全的关键核心。近五年来我国集成电路产业年均增长27%,呈现出前所未有的大好形势。集成电路测试业是集成电路产业链中重要的组成部分,不断地研发出适合中国国情的集成...
集成电路产业是国家综合竞争力的重要标志,也是维护国家经济和国防安全的关键核心。近五年来我国集成电路产业年均增长27%,呈现出前所未有的大好形势。集成电路测试业是集成电路产业链中重要的组成部分,不断地研发出适合中国国情的集成电路测试系统是测试业的重要使命。
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关键词
图形发生器
集成电路测试系统
CPU
DSP
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职称材料
集成电路测试业的挑战与机遇
9
作者
张东
《集成电路应用》
2003年第8期21-22,共2页
集成电路作为信息产业的基础和高新技术产业的核心,已被列为'十五'计划重点发展的领域。集成电路产业链为设计、制造、封装、测试四业并举,国外和台湾地区集成电路测试业公司进军大陆的严峻形势,给国内集成电路测试业带来挑战...
集成电路作为信息产业的基础和高新技术产业的核心,已被列为'十五'计划重点发展的领域。集成电路产业链为设计、制造、封装、测试四业并举,国外和台湾地区集成电路测试业公司进军大陆的严峻形势,给国内集成电路测试业带来挑战也带来发展的大好机遇。
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关键词
集成电路测试业
中国
展望
发展策略
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职称材料
基于DSP的多频带混合信号测试系统
被引量:
2
10
作者
蒋常斌
冯建科
+1 位作者
郭仕瑞
高剑
《现代电子技术》
2008年第14期38-40,共3页
根据现代芯片制造和测试技术的趋势,论述当今混合信号测试的特点和要求,阐明国内外混合信号测试现状,探讨混合信号传统测试方法的不足。针对国内测试设备制造业的现实情况,提出一种新的混合信号测试方案,该方案基于高速数字信号处理技术...
根据现代芯片制造和测试技术的趋势,论述当今混合信号测试的特点和要求,阐明国内外混合信号测试现状,探讨混合信号传统测试方法的不足。针对国内测试设备制造业的现实情况,提出一种新的混合信号测试方案,该方案基于高速数字信号处理技术,成本低廉、遵循标准化和模块化的设计思路,解决了多种频带的混合信号测试问题,是业内现实情况下测试设备制造业的一个探索。
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关键词
混合信号
A/D
D/A
DSP
测试技术
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职称材料
应用VC开发测试仪系统软件
11
作者
王晓梅
《电子工程师》
2003年第7期4-5,9,共3页
目前开发测试仪系统软件的工具很多 ,不可否认VC是其中最佳的选择。本文就如何处理模块化程序、数据的存储和显示以及多线程问题等提出了解决办法 ,目的在于使软件能更充分地发挥硬件性能 。
关键词
集成电路
测试仪
VC语言
模块化软件
数据库
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职称材料
VXI数模混合集成电路测试系统
12
《中国集成电路》
2007年第7期48-49,共2页
1、简介 《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发,对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。该项目带动了国内集成电路测试仪器的产业化。通过该...
1、简介 《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发,对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。该项目带动了国内集成电路测试仪器的产业化。通过该测试系统的开发、生产,必将满足大部分国内集成电路测试需求,替代国外同类测试系统,可节省大量外汇资源,在中高速测试系统中引入竞争,迫使国外中高档测试系统降价,将产生良、好的社会效益和经济效益。有利地促进我国集成电路产业的发展。
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关键词
集成电路测试系统
VXI总线测试系统
数模混合
集成电路产业
模块化结构
设计验证
可扩展性
测试仪器
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职称材料
Galerkin边界元法用于弹塑性分析的准高次元方法
被引量:
1
13
作者
岑章志
徐秉业
《力学学报》
EI
CSCD
北大核心
1997年第6期745-750,共6页
提出了一种适用于Galerkin边界元法的高次单元插值方法和半解析半数值的积分方法准高次元法,建立了有关数值模型和将该方法应用于结构弹塑性分析的算法模型.有关算例结果表明,本文建议的方法是切实可行的.
关键词
弹塑性分析
数值模型
准高次元
伽辽金边界元
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职称材料
转制科研院所的财务管理创新刍议
14
作者
李怀建
《行政事业资产与财务》
2015年第5期66-66,65,共2页
按目前我国的发展情况看来,科研院所逐步从非营利性组织转变成为营利性组织。科研院所的转制就是为了更好地适应国家的发展要求,逐步调整科研院所的整体布局结构。为了使科研院所在经济体制的改革下能更好地发展生产,就要建立新的财...
按目前我国的发展情况看来,科研院所逐步从非营利性组织转变成为营利性组织。科研院所的转制就是为了更好地适应国家的发展要求,逐步调整科研院所的整体布局结构。为了使科研院所在经济体制的改革下能更好地发展生产,就要建立新的财务管理机制。为此,本文将针对转制科研院所的财务管理创新作出简单分析和提出几点意见。
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关键词
转制
科研院所
财务管理
创新
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职称材料
题名
液晶屏显示驱动芯片测试技术研究
被引量:
2
1
作者
濮德龙
刘春来
张东
机构
北京自动测试技术研究所
集成电路
测试
技术
北京
市重点实验室
出处
《数字技术与应用》
2016年第4期59-61,共3页
文摘
液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用于该类芯片的测试,目前该技术主要掌握在国外企业手中,因此在驱动芯片设计与制造的产业链中,测试技术已成为制约发展的一个瓶颈。针对此背景,本文提出一套高效、实用测试方法,采用多通道与高压模拟通道同步测试技术、色阶测试技术、特殊封装的适应性技术和ATE等技术,可以实现减少测试费用、提高驱动芯片测试吞吐量的同时也能保证客户对芯片质量的严格要求。
关键词
液晶显示驱动芯片
芯片测试
多通道同步测试
色阶测试
Keywords
LCD driver chip
chip test
multi-channel synchronous test
color gradation test
分类号
TN873 [电子电信—信息与通信工程]
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职称材料
题名
语音电路测试与开发技术
被引量:
1
2
作者
刘清君
李素君
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《电子产品世界》
1999年第8期62-63,共2页
关键词
语音电路
集成电路
芯片
测试
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN912.3 [电子电信—通信与信息系统]
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职称材料
题名
双音多频电路的测试技术
被引量:
1
3
作者
刘清君
濮德龙
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《电子产品世界》
1999年第7期56-57,共2页
关键词
双音多频电路
测试技术
电子电路
分类号
TN710.07 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
空间用元器件热真空试验评价方法研究
被引量:
2
4
作者
阳辉
白桦
刘燕芳
哈文慧
张东
机构
北京
圣涛平北科检测
技术
有限公司
北京自动测试技术研究所
湖南大学电气工程学院
出处
《电子与封装》
2011年第6期31-35,共5页
文摘
空间用元器件热真空试验是空间环境模拟试验中非常重要的一项试验,文章通过对空间用元器件热真空环境应力的分析,给出了不同轨道的温度范围以及不同真空度下空间用元器件的物理效应;对空间用元器件热真空试验评价方法进行了研究和探讨,在参照组件、分系统、整星热真空试验方法的基础上,提出了器件级热真空试验程序。介绍了已开展的DC/DC混合集成电路和双向收发器单片集成电路的热真空试验情况和试验结果。试验结果表明,通过热真空试验,可以对空间用元器件热真空环境下的性能和可靠性进行试验评价,为航天用户单位合理选用空间用元器件提供科学依据。
关键词
空间
元器件
热真空试验
Keywords
space
device
thermal vacuum testing
分类号
TN306 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
我国集成电路测试产业发展的探讨
被引量:
2
5
作者
张东
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《中国集成电路》
2002年第3期86-90,共5页
文摘
众所周知,集成电路产业是庞大的产业群体。集成电路产业群体中的每项产业都有着特殊的地位和作用,缺少其中任何一项产业。
关键词
集成电路测试
模拟测试系统
集成电路检测
集成电路产业
测试软件
产业发展
产业政策
测试方法
数字集成电路
封装业
分类号
F426.63 [经济管理—产业经济]
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职称材料
题名
双极型运算放大器ELDRS效应试验研究
6
作者
阳辉
刘燕芳
陈宇
白桦
张东
机构
北京
圣涛平北科检测
技术
有限公司
湖南大学电气工程学院
北京自动测试技术研究所
出处
《辐射研究与辐射工艺学报》
CAS
CSCD
2011年第3期183-188,共6页
文摘
针对空间辐射环境下应用的双极型器件抗辐射能力与地面高剂量率辐照模拟试验所获得器件的抗辐照水平存在差异,在地面利用^(60)Co辐射源开展了双极型运算放大器的总剂量辐照试验研究,分析了辐照剂量率、辐照偏置和室温退火3种试验组合条件下样品的总剂量响应。结果表明,在300Gy的辐照水平下,低剂量率辐照条件下器件参数的退化损伤是高剂量率条件下的2.46-816.67倍,受试样品具有明显的增强型低剂量率敏感度效应(ELDRS),辐照敏感参数为输入偏置电流、输入失调电流、输入失调电压和开环增益,退化损伤结果与辐照剂量率、辐照偏置有关,高剂量率辐照后受试样品的室温退火有较小的时变效应,低剂量率辐照后受试样品的室温退火有明显的时变效应。
关键词
运算放大器
ELDRS
辐照剂量率
辐照偏置
室温退火
Keywords
Operational amplifier, Enhanced low dose rate sensitivity, Irradiation dose rate, Bias, Room temperature annealing
分类号
TN86 [电子电信—信息与通信工程]
O571.33 [理学—粒子物理与原子核物理]
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职称材料
题名
集成电路测试业发展模式的探索与实践
被引量:
1
7
作者
张东
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《集成电路应用》
2002年第1期40-41,45,共3页
文摘
1、概述众所周知,集成电路产业的业务链主要包括设计、芯片生产、封装和测试四个部份,其中集成电路测试业务贯穿在集成电路设计、芯片生产、封装以及集成电路应用的全过程,完成集成电路设计的验证测试、制定集成电路产品技术规范的相关测试,大批量芯片中测和成品测试,以及用户的入库检测等一系列检测任务,确保集成电路产品的高质量。为完成集成电路产业赋予集成电路测试业的检测任务,集成电路测试业必须具备下列三个方面的能力:
关键词
集成电路测试业
发展模式
半导体产业
分类号
F416.63 [经济管理—产业经济]
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职称材料
题名
新型图形发生器的集成电路测试系统
8
作者
张东
刘天增
张生文
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《集成电路应用》
2003年第8期54-55,共2页
文摘
集成电路产业是国家综合竞争力的重要标志,也是维护国家经济和国防安全的关键核心。近五年来我国集成电路产业年均增长27%,呈现出前所未有的大好形势。集成电路测试业是集成电路产业链中重要的组成部分,不断地研发出适合中国国情的集成电路测试系统是测试业的重要使命。
关键词
图形发生器
集成电路测试系统
CPU
DSP
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
集成电路测试业的挑战与机遇
9
作者
张东
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《集成电路应用》
2003年第8期21-22,共2页
文摘
集成电路作为信息产业的基础和高新技术产业的核心,已被列为'十五'计划重点发展的领域。集成电路产业链为设计、制造、封装、测试四业并举,国外和台湾地区集成电路测试业公司进军大陆的严峻形势,给国内集成电路测试业带来挑战也带来发展的大好机遇。
关键词
集成电路测试业
中国
展望
发展策略
分类号
F426.63 [经济管理—产业经济]
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职称材料
题名
基于DSP的多频带混合信号测试系统
被引量:
2
10
作者
蒋常斌
冯建科
郭仕瑞
高剑
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《现代电子技术》
2008年第14期38-40,共3页
文摘
根据现代芯片制造和测试技术的趋势,论述当今混合信号测试的特点和要求,阐明国内外混合信号测试现状,探讨混合信号传统测试方法的不足。针对国内测试设备制造业的现实情况,提出一种新的混合信号测试方案,该方案基于高速数字信号处理技术,成本低廉、遵循标准化和模块化的设计思路,解决了多种频带的混合信号测试问题,是业内现实情况下测试设备制造业的一个探索。
关键词
混合信号
A/D
D/A
DSP
测试技术
Keywords
mixed - signal
A/D
D/A
DSP
test
technology
分类号
TP20 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
TN30 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
应用VC开发测试仪系统软件
11
作者
王晓梅
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《电子工程师》
2003年第7期4-5,9,共3页
文摘
目前开发测试仪系统软件的工具很多 ,不可否认VC是其中最佳的选择。本文就如何处理模块化程序、数据的存储和显示以及多线程问题等提出了解决办法 ,目的在于使软件能更充分地发挥硬件性能 。
关键词
集成电路
测试仪
VC语言
模块化软件
数据库
Keywords
DLL, multi threading, DAO, Microsoft chart control
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
VXI数模混合集成电路测试系统
12
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《中国集成电路》
2007年第7期48-49,共2页
文摘
1、简介 《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发,对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。该项目带动了国内集成电路测试仪器的产业化。通过该测试系统的开发、生产,必将满足大部分国内集成电路测试需求,替代国外同类测试系统,可节省大量外汇资源,在中高速测试系统中引入竞争,迫使国外中高档测试系统降价,将产生良、好的社会效益和经济效益。有利地促进我国集成电路产业的发展。
关键词
集成电路测试系统
VXI总线测试系统
数模混合
集成电路产业
模块化结构
设计验证
可扩展性
测试仪器
分类号
TN453 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
Galerkin边界元法用于弹塑性分析的准高次元方法
被引量:
1
13
作者
岑章志
徐秉业
机构
北京自动测试技术研究所
清华大学工程力学系
出处
《力学学报》
EI
CSCD
北大核心
1997年第6期745-750,共6页
基金
国家自然科学基金
文摘
提出了一种适用于Galerkin边界元法的高次单元插值方法和半解析半数值的积分方法准高次元法,建立了有关数值模型和将该方法应用于结构弹塑性分析的算法模型.有关算例结果表明,本文建议的方法是切实可行的.
关键词
弹塑性分析
数值模型
准高次元
伽辽金边界元
Keywords
boundary element method, softening analysis, quasi-high order element method
分类号
O344.3 [理学—固体力学]
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职称材料
题名
转制科研院所的财务管理创新刍议
14
作者
李怀建
机构
北京自动测试技术研究所
出处
《行政事业资产与财务》
2015年第5期66-66,65,共2页
文摘
按目前我国的发展情况看来,科研院所逐步从非营利性组织转变成为营利性组织。科研院所的转制就是为了更好地适应国家的发展要求,逐步调整科研院所的整体布局结构。为了使科研院所在经济体制的改革下能更好地发展生产,就要建立新的财务管理机制。为此,本文将针对转制科研院所的财务管理创新作出简单分析和提出几点意见。
关键词
转制
科研院所
财务管理
创新
分类号
F275 [经济管理—企业管理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
液晶屏显示驱动芯片测试技术研究
濮德龙
刘春来
张东
《数字技术与应用》
2016
2
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职称材料
2
语音电路测试与开发技术
刘清君
李素君
《电子产品世界》
1999
1
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职称材料
3
双音多频电路的测试技术
刘清君
濮德龙
《电子产品世界》
1999
1
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职称材料
4
空间用元器件热真空试验评价方法研究
阳辉
白桦
刘燕芳
哈文慧
张东
《电子与封装》
2011
2
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职称材料
5
我国集成电路测试产业发展的探讨
张东
《中国集成电路》
2002
2
在线阅读
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职称材料
6
双极型运算放大器ELDRS效应试验研究
阳辉
刘燕芳
陈宇
白桦
张东
《辐射研究与辐射工艺学报》
CAS
CSCD
2011
0
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职称材料
7
集成电路测试业发展模式的探索与实践
张东
《集成电路应用》
2002
1
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职称材料
8
新型图形发生器的集成电路测试系统
张东
刘天增
张生文
《集成电路应用》
2003
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
9
集成电路测试业的挑战与机遇
张东
《集成电路应用》
2003
0
在线阅读
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职称材料
10
基于DSP的多频带混合信号测试系统
蒋常斌
冯建科
郭仕瑞
高剑
《现代电子技术》
2008
2
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职称材料
11
应用VC开发测试仪系统软件
王晓梅
《电子工程师》
2003
0
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职称材料
12
VXI数模混合集成电路测试系统
《中国集成电路》
2007
0
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职称材料
13
Galerkin边界元法用于弹塑性分析的准高次元方法
岑章志
徐秉业
《力学学报》
EI
CSCD
北大核心
1997
1
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职称材料
14
转制科研院所的财务管理创新刍议
李怀建
《行政事业资产与财务》
2015
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